Темнопольное изображение
Cтраница 4
Третья стадия характеризуется формированием однородной наноструктуры со средним размером зерен около 100 нм в армко - Fe ( рис. 1.1 Те) и несколько меньшим в сталях. При этом зерна являются сильно упругоискаженными, что особенно отчетливо видно на темнопольных изображениях. [46]
Третья стадия характеризуется формированием однородной наноструктуры со средним размером зерен около 100 нм в армко - Fe ( рис. 1.17 е) и несколько меньшим в сталях. При этом зерна являются сильно упругоискаженными, что особенно отчетливо видно на темнопольных изображениях. [47]
В то же время в армко - Fe [24] и Ti [58] был получен еще более мелкий размер зерен ( около 80 нм, при этом увеличился и уровень искажений многих зерен. В этом случае контуры границ становятся настолько размытыми, что размер зерен можно измерить только по темнопольным изображениям. [48]
Светлопольное и темнопольное изображения могут иметь разный характер в зависимости от общей толщины фольги. Например, в случае фольги толщиной t - 3te при s 0 и те I0te светло-польное изображение будет прерывистым, а темнопольное изображение - чередующимся, тогда как при толщине фольги t 3 5te наблюдается обратная картина. Для более толстых кристаллов осцилляции контраста заметны лишь около его поверхности и затухают в середине фольги. [49]
 |
Кинетика а у превращения в сплаве Н26ХТ1 при различных температурах. [50] |
В процессе изотермической выдержки в сплаве Н26ХТ1 образуются чрезвычайно дисперсные кристаллы, неразрешаемые в световом микроскопе: на рис. 3.8, я они располагаются в пределах протравленных темных участков бывшего мартенсита. Наряду с первичными аустенитными полосами, появившимися при ускоренном нагреве и содержащими неправильные стенки дислокаций, в структуре наблюдаются различно ориентированные дисперсные пластины. Темнопольное изображение в рефлексах аустевита ( см. рис. 3.8 в) позволяет однозначно отождествлять эти пластинчатые кристаллы с у-фазой. Толщина у-крис-таллов составляет 0 01 - 0 03 мкм, а длина - 0 1 - 0 2 мкм, что на два порядка меньше, чем размеры у-пластин, образующихся при непрерывном нагреве с высокими и средними скоростями. [51]
В то же время темнопольное изображение создается только дифрагированными электронами, а основной электронный пучок экранируется объектной диафрагмой. Таким образом, светло - и темнопольное изображения объекта до известной степени дополняют друг друга. Однако темнопольное изображение содержит более емкую информацию, позволяя судить о внутреннем строении объектов. Действительно, наклоняя кристалл, можно устанавливать различные семейства его кристаллографических плоскостей в отражающее положение. [52]
Печь 10 служит для прогрева умножителя перед началом измерений. В тубусе микроскопа установлено уплотнение 9 из нейтрального стекла. Наличие зеркала 7 светлопольного и темнопольного изображения в микроскопе позволяет работать без специальной кварцевой оптики. Светофильтры вставляются в корпус лампы. [53]
Микродифракционный фазовый анализ существенно облегчается, если кристаллик или система одинаково ориентированных кристалликов анализируемой фазы ( с. Тогда следует отобрать по темнопольным изображениям рефлексы, принадлежащие одному кристаллику или группе одинаково ориентированных кристалликов исследуемой фазы, измерить радиусы-векторы этих рефлексов в углы между ними и отыскать из числа предполагаемых в данном случае фаз ту обратную решетку, плоское сечение которой представляет собой МДК. Последняя стадия описанной процедуры практически состоит в сравнении экспериментальной электронограммы с различными сечениями ряда обратных решеток. Поэтому необходимо иметь такие сечения для всех возможных фаз или уметь быстро их строить аналитически или с помощью стандартных стереографических проекций решеток этих фаз. [54]
Кроме того, апертурная диафрагма способствует получению большей резкости изображений, уменьшая влияние сферической аберрации. Малая угловая апертура объективной линзы обеспечивает и большую глубину резкости, необходимую для получения резких снимков на фотопластинках, расположенных значительно ниже экрана, на котором фокусируется изображение. Наличие подвижной апертурной диафрагмы позволяет получать темнопольные изображения путем смещения падающего электронного пучка или диафрагмы таким образом, чтобы через нее проходили только рассеянные электроны. Тогда те участки объекта, которые сильнее рассеивают электроны, будут на изображении более светлыми. При исследованиях необходимо выбирать оптимальные размеры апертурной диафрагмы, поскольку с их уменьшением возрастают контрастность и резкость изображения, но падает его яркость. [55]
Обычно для каждого изображения с помощью-селекторной диафрагмы снимают картину микродифракции, поскольку она позволяет определить кристаллографическую ориентировку образца и существующие дифракционные условия. Контраст на изображении формируют наиболее интенсивные рефлексы. При определении вектора Бюргерса часто пользуются методикой темнопольного изображения. Для получения темнопольного изображения в апертурную диафрагму объективной линзы пропускают только дифрагированный пучок. В то время как контраст на свет-лопольном изображении является контрастом вычитания, на темнопольном изображении реализуется контраст сложения. В случае тонких образцов в дифрагированные пучки уходит малая интенсивность, и поэтому темнопольное изображение может быть более контрастным ( фиг. [56]
Позволяет проводить исследования в светлом и темном поле. С помощью этого микроскопа исследуют объекты на просвет; получают светлопольные и темнопольные изображения; производят дифракционные исследования участков объектов на просвет; микродифракционные исследования объектов с локальностью 1 - 2 мкм. При эксплуатации микроскопа могут использоваться следующие приставки. [57]
Для целей микроскопии кристаллич. Если используется первичный пучок, то дифракционное изображение будет светлопольным, и противоположность темнопольному изображению, формируемому в дифракционном пучке. [59]
 |
Микроструктура титана, подвергнутого деформации кручением. [60] |
Страницы: 1 2 3 4 5