Фликкер-шум
Cтраница 3
Здесь s - абсолютное и sv - относительное стандартное отклонение определения; Kt - погрешности измерения, обусловленные дробовыми и фликкер-шумами атомизатора, приемника излучений и регистрирующего устройства в отсутствие определяемого элемента; Kd - коэффициент дробовых шумов; А - коэффициент фликкер-шумов; С - концентрация определяемого элемента; Sc - чувствительность измерений, выраженная в единицах определяемой концентрации. Выражения ( 1) принимают во внимание инструментальные погрешности спектральной аппаратуры. [31]
Воспроизводимость связана с различными источниками шума в системе АЭС: дробовой шум из-за случайной эмиссии и прихода фотонов на детектор, фликкер-шум из-за некоторой возможной нестабильности прибора и шум детектора. Воспроизводимость может быть также ограничена гетерогенностью пробы, когда проводят прямой анализ твердых проб. Искра высокого напряжения, пламя и плазма демонстрируют хорошую воспроизводимость с sr порядка 1 % или даже ниже. Эти величины получают при работе с содержаниями по меньшей мере в 20 - 50 раз выше предела обнаружения. Вот почему дугу используют главным образом для качественного или полуколичественного анализа. [32]
Из кривой 1 рис. 6, а, ясно, что бесполезно стремиться к увеличению углов больше 0 1 при существующей величине фликкер-шума. [33]
Из рассмотрения уравнений ( 3), ( 25) - ( 27) следует, что для уменьшения коэффициента шума в области фликкер-шума следует снижать рабочий ток. [34]
Здесь s - абсолютное и sv - относительное стандартное отклонение определения; Kt - погрешности измерения, обусловленные дробовыми и фликкер-шумами атомизатора, приемника излучений и регистрирующего устройства в отсутствие определяемого элемента; Kd - коэффициент дробовых шумов; А - коэффициент фликкер-шумов; С - концентрация определяемого элемента; Sc - чувствительность измерений, выраженная в единицах определяемой концентрации. Выражения ( 1) принимают во внимание инструментальные погрешности спектральной аппаратуры. [35]
С точки зрения распределения мощности шума по частотам, можно считать, что шум ОУ содержит две независимые составляющие: белый шум, т.е. такой шум, который имеет примерно одинаковую спектральную плотность S ( f) во всей полосе пропускания ОУ, и фликкер-шум, называемый также розовым шумом, спектральная плотность которого S f) возрастает в области низких частот. [36]
Этот вид шума называют фликкер-шумом по аналогии с шумом в электровакуумных приборах. Природа фликкер-шума в полупроводниках еше не полностью выяснена. Фликкер-шум в полупроводниках заметен лишь в диапазоне частот ниже нескольких тысяч герц. Установлено, что возникновение фликкер-шума в основном связано с поверхностью полупроводника: поверхностные ловушки производят захват носителей, изменяя число свободных носителей в обр. Постоянная времени процесса захвата т3 может быть достаточно большой; совокупность процессов с различными т3 обусловливает фликкер-шум. [37]
Однако, как показывает опыт, на частотах, меньших 105 Гц, уровень шума начинает возрастать, и его спектральная плотность увеличивается по мере уменьшения частоты. Такой шум называют фликкер-шумом. Частота и интенсивность избыточного шума в рамках одной серии электронных приборов испытывают значительный разброс. Это позволяет предполагать, что фликкер-шум связан с тонкими деталями структуры изготовляемых электронных приборов, которые плохо контролируются при изготовлении. Замечено также, что уровень фликкер-шума существенно зависит от состояния поверхности прибора. [38]
Поскольку крутизна растет вместе с током стока, для снижения шума напряжения имеет смысл, чтобы ПТ работали с большим током. Кроме того, имеется некоторый фликкер-шум, связанный с током утечки затвора. [39]
В электронных лампах фликкер-шум возникает из-за немедленных случайных изменений эмиссионной способности поверхности катода, в угольных сопротивлениях - за счет флуктуации в контактном сопротивлении между гранулами, в керамических конденсаторах - из-за токов теплового возбуждения в материале. В полупроводниковых приборах со смещением фликкер-шум является следствием в основном генерации и рекомбинации неосновных носителей заряда. Оба эти процессы протекают внутри и на поверхности полупроводника. [40]
В области шумов типа 1 / / как е2, так и г2 определяются в основном одним и тем же источником шума, и следовательно, они должны быть сильно кор-релированы. Поэтому при проведении испытаний в области фликкер-шума помимо измерений е2 и t2 для вычисления коэффициента шума необходимо экспериментально определять коэффициент корреляции. [41]
Поскольку и числитель и знаменатель этой дроби пропорциональны числу витков измерительной катушки, величина Яш от числа витков не зависит. Используя то обстоятельство, что напряжение магнитного фликкер-шума распределено нормально, можно связать ширину шумовой дорожки с дисперсией распределения. [42]
 |
Структурная схема усилителя, охваченного обратной связью. 1 - усилитель. 2 -. цепь обратной связи. [43] |
Частота f0 в этой формуле - это частота, на которой значения спектральной плотности белого и розового шумов одинаковы. В области частот ниже f0 в усилителе преобладает фликкер-шум, а выше f0 - белый шум. [44]
При подаче смещения у полупроводников и полупроводниковых диодов наблюдается шум с характерным спектром Ды2 - / -, где а - близко к единице. В литературе этот шум называют: низкочастотный шум, фликкер-шум, 1 / / - шум, избыточный шум. Следует отметить, что все эти названия не очень удачны. Так, например, название низкочастотный шум не отражает того, что на низких частотах, кроме шума со спектром f - a, присутствуют также тепловой, дробовой и другие виды шума. [45]
Страницы: 1 2 3 4