Фликкер-шум

Cтраница 4

Измерения уровня фликкерной составляющей магнитного шума при частоте возбуждения / о 700 Гц и отстройке от второй гармоники на частоту 10 Гц показали, что поле Яш для образца с меньшими удельными потерями на перемагни-чивание соответственно примерно вдвое ниже. Возможной причиной обнаруженного соответствия между величиной удельных потерь и уровнем магнитного фликкер-шума сердечников может; являться одинаковая зависимость этих характеристик от размеров доменной структуры сердечников. В работе [220], где описаны магнитные свойства перминварных Fe-Co-Ni сплавов в статическом и динамическом режимах перемагничивания, отмечается, что сплавам с большими потерями соответствуют положительные значения константы кристаллической магнитной анизотропии и наличие интенсивной кубической текстуры. Последнее способствует образованию укрупненной доменной структуры и перемагничиванию большими скачками Баркгаузена, что приводит с одной стороны, к возрастанию потерь на перемагничивание, с другой стороны - к возрастанию уровня магнитного шума. Таким образом, величина удельных потерь является удобным динамическим параметром, позволяющим производить отбор магнитных сердечников с малым уровнем шума. [46]

При низких частотах ( / 102 Гц) необходимо учитывать и фликкер-шум за счет медленных изменений чувствительности фотокатода. [47]

Разработка физической модели магнитного фпиккер-шума, возникающего в процессе циклического перемагничивания, является важным этапом на пути выяснения причин, приводящих к появлению неповторяемости процессов перемагничивания. Один из подходов к решению этого вопроса основан на предположении, что магнитный фликкер-шум вблизи гармоник частоты перемагничивания вызван медленными флуктуа-циями параметров петли гистерезиса [114, 135, 150], причем совершенно очевидно, что появление шума на четных гармониках должно быть связано с медленно меняющимися случайными нарушениями симметрии петли. [48]

Таким образом, если предположить, что обедненный слой достаточно чист, и шумами захвата носителей тока дефектами решетки можно пренебречь, то при усилении тока электронных лучей с дробовыми шумами в полупроводниковых структурах с p - n - переходами не возникают дополнительные шумы. Кррме того, в обратно смещенных р-п-переходах всегда имеются шум темнового тока и низкочастотный контактный фликкер-шум. [49]

Такая же зависимость часто наблюдается на низких частотах при переносе заряда в полупроводниках. Во всех подобных ситуациях принято говорить о l / f - шуме или фликкер-шуме. [50]

Сюда относятся тепловые и нетепловые шумы резисторов и флуктуационные шумы, генерируемые каждым усилительным элементом: в случае электронных ламп - это дробовые шумы анодного и сеточного токов, шумы, обусловленные фликкер-эффектом катода; в случае транзисторов - генерационно-рекомбинационныи шум, создаваемый спонтанными флуктуациями скорости генерации и рекомбинации носителей, диффузионный шум, порождаемый случайным характером процесса диффузии, и модуляционный шум, обусловленный некоторыми процессами модуляции. В зависимости от свойств отдельных составляющих шумов транзисторов их иногда делят на тепловой, дробовый и фликкер-шум по аналогии с электронными лампами. [51]

Кривая ДТА процесса мицеллообразования в 7 % - ном растворе натриевой соли а-сульфапальмитиновой кислоты. ( Скорость нагревания град / мин, Т р ф 79 - 90 С. [52]

Все наблюдаемые эффекты имеют пороговый характер и протекают в определенных температурно-временных интервалах, что позволяет ввести систему параметров J, характеризующую эти процессы. Спектральный анализ макроскопических флуктуации с использованием методов Фурье и WAVELET-анализа показал, что наблюдаемые флуктуации представляют собой фликкер-шум Показатель спектральной плотности мощности а может явиться характеристическим параметром данного процесса. [53]

Бн / Гц при отстройке от несущей, равной 10 кГц; при отстройке на 100 кГц и более получено значение - 160 дБн / Гц. Для частот, отстоящих от несущей в пределах полосы частот шириной около 5 кГц, кратковременная стабильность определяется фликкер-шумом, который зависит от качества обработки поверхности подложки и может быть точно рассчитан теоретически. Автогенераторы с резонаторами на ПАВ характеризуются лучшей стабильностью. [54]

Эксперимент показал ( см. таблицу), что движущиеся заряды 2 - 10 14 - 3 3 10-и к могут быть измерены достаточно надежно и что нижний предел весьма близок к теоретической оценке. Кроме того, анализ и эксперимент показывают, что верхний предел чувствительности 5 10 - 15 - 2 - 10 - 14 к при определенных условиях может быть повышен на 1 - 2 порядка, если в зарядочувствительных усилителях для отсечки фликкер-шума применить модуляцию яа достаточно высокой несущей частоте с последующим избирательным усилением и фазовым детектированием. [55]

Этот вид шума называют фликкер-шумом по аналогии с шумом в электровакуумных приборах. Природа фликкер-шума в полупроводниках еше не полностью выяснена. Фликкер-шум в полупроводниках заметен лишь в диапазоне частот ниже нескольких тысяч герц. Установлено, что возникновение фликкер-шума в основном связано с поверхностью полупроводника: поверхностные ловушки производят захват носителей, изменяя число свободных носителей в обр. Постоянная времени процесса захвата т3 может быть достаточно большой; совокупность процессов с различными т3 обусловливает фликкер-шум. [56]

Страницы: 1 2 3 4