Флэш-десорбция - Большая Энциклопедия Нефти и Газа, статья, страница 2
Если Вас уже третий рабочий день подряд клонит в сон, значит сегодня среда. Законы Мерфи (еще...)

Флэш-десорбция

Cтраница 2


Теплота рассчитана для мгновенных заполнений при 298 К, определенных методом флэш-десорбции. Вклады индивидуальных состояний a, Pi, Рг, Рз основаны на постоянных величинах энергии 20, 53, 75 и 100 ккал / моль соответственно.  [16]

Другой пример, представляющий интерес с физической точки зрения, появляется при флэш-десорбции. Этим методом можно подробно изучить заполнения и энергии активации десорбции молекул, находящихся в различных состояниях связи с поверхностью. Для сравнения этих измерений с результатами калориметрии и изучения изотерм энергия активации десорбции для каждого состояния должна быть сначала умножена на долю этого состояния в заполнении поверхности. Это проиллюстрировано на рис. 31 для адсорбции СО на вольфраме. Аналогичный эффект может иметь значение и при десорбции.  [17]

Даже из этого единственного частного примера ясно, что электронный проектор и флэш-десорбция существенным образом дополняют друг друга. Электронный проектор при соответствующем проведении опытов может дать подробные сведения о распределении адсорбированного вещества по поверхности и о скорости процессов на атомарном уровне, происходящих в самом адсорбированном слое. Необходимые для этих наблюдений поля таковы, что, по-видимому, не могут создать серьезных препятствий. С другой стороны, флэш-десорбция дает прямые сведения о кинетике молекулярного переноса между газовой фазой и поверхностью. Эти данные не только чрезвычайно важны для понимания кинетики гетерогенных реакций, но и позволяют легко сделать подробные выводы об энергетике связывания газа поверхностью. Без данных по автоэлектронной эмиссии трудно связать эту информацию со структурой и свойствами поверхностного слоя. И наоборот, без сведений, получаемых из макроскопических измерений, трудно однозначно установить природу кинетических процессов, ответственных за изменения, которые наблюдаются в эмиссионном микроскопе.  [18]

Еще более глубокое проникновение в атомистические подробности взаимодействия ксенона с вольфрамом уже невозможно; связь настолько слабее, что наблюдения в ионном проекторе, по-видимому, неосуществимы. Однако распространение метода флэш-десорбции на кристаллы с монокристаллическим характером поверхности и проведение опытов в более широком интервале температур должны были бы дать однозначный ответ на вопрос об эффективности конденсации.  [19]

Во время высокотемпературной очистки образца слой газа на внутренних стенках может истощиться, а затем восстановиться во время интервала адсорбции. И наоборот, после флэш-десорбции газ может снова выделиться со стенок, окружающих нить. Эффекты такого рода в некоторых случаях становятся заметными. Это дает время жизни порядка 2 - 10 - 4 и 2 - 10 - 2 сек соответственно.  [20]

Для этой цели более подходящими являются иследования в слабых полях и измерения контактного потенциала. Общее количество адсорбированного вещества можно определить отдельно методом флэш-десорбции. Кроме того, контактный потенциал А относится к средней площади, являющейся объектом измерений и в случае низковольтной эмиссии. Трудность при таком подходе заключается в необходимости получения истинно однородной поверхности макроскопических размеров.  [21]

22 Изменение сопротивления нити во время десорбции со спектрометром. [22]

Сделав сопротивление нити мерой температуры образца, следует помнить, что последняя не однородна по всему образцу. Для нагреваемой электрическим током нити, обычно используемой при флэш-десорбции, изменения температуры по длине образца возникают 1) из-за неоднородностей площади сечения или содержания загрязнений и 2) как следствие отвода энергии в окружающую среду.  [23]

В электронном проекторе наблюдают свойства самого адсорбированного слоя. Поэтому метод не связан с осложнениями, возникающими при флэш-десорбции ксенона, и помимо того дает подробную информацию о зависимости взаимодействия от строения. Успешному проведению исследования могут помешать два обстоятельства.  [24]

25 Десорбционный спектрометр. [25]

Регулирование температуры образца во время выделения газа является центральной задачей в измерениях по методу флэш-десорбции.  [26]

Применение ионного проектора для адсорбционных исследований еще только начинается. Поэтому пока трудно проводить подробное сравнение достижений, полученных с применением этого метода и методов флэш-десорбции и обычного электронного проектора. В настоящее время число систем, которые можно успешно исследовать в ионном проекторе, ограничено вследствие того, что для получения изображения требуются мощные поля, а также из-за десорбции адсорбированного слоя под влиянием поля и электронной бомбардировки. Однако огромная важность ионного проектора как метода исследования адсорбции совершенно очевидна из уже выполненных работ, а дальнейшие технические усовершенствования должны сильно расширить область его применения.  [27]

Такая корреляция справедлива и для поверхностной диффузии. Обсуждаемая структурная специфичность представляет интерес не только в связи с выяснением природы физической адсорбции в целом; такая специфичность открывает возможности более полного анализа данных по флэш-десорбции.  [28]

Однако метод Хикмотта приводит к значительным экспериментальным ошибкам, и более высокое значение, полученное Брен-наном и Флетчером, соответствует, скорее, величине 0 1 для температур между 77 и 194 К, которая вычислена Хикмоттом из данных о величине покрытия, определенных методом флэш-десорбции) после выдерживания поверхности в атмосфере газа в течение определенного времени. К сожалению, полученное им значение S 0 2 при 300 К нельзя рассматривать как подтверждение той или иной величины, так как в его опытах не было сделано допущения о возможности атомизации во время мгновенного нагревания нити, а также на нити ионизационного манометра; вполне возможно, кроме того, присутствие значительных количеств примесей.  [29]

При изучении адсорбции С2Н6, С2Н4 и С2Н2 [13] на чистой поверхности иридия с помощью эмиссионного микроскопа было обнаружено характерное изменение работы выхода электронов. При нагревании поверхности проявлялись дальнейшие изменения, зависящие от времени и температуры. С помощью метода флэш-десорбции было показано, что изменение работы выхода при нагревании происходит в результате десорбции и что десорбирующиеся продукты состоят главным образом из водорода.  [30]



Страницы:      1    2    3