Cтраница 2
Полупроводниковые фотоэлементы также имеют запорный слой, однако для работы они не требуют внешнего источника тока. Образующиеся в запорном слое при освещении электроны и дырки перемещаются в / г-проводник и / - проводник соответственно; таким образом, возникает фототок, который можно измерить амперметром. [17]
Полупроводниковый фотоэлемент может представлять собой монокристалл, например CdS, в который вмонтирован проводник в виде тонкой проволоки ( фиг. [18]
Полупроводниковые фотоэлементы характеризуются не строгой линейностью зависимости величины электрического сигнала от освещения. Этот недостаток, равно как и непостоянство чувствительности фотоэлемента, нестабильность его питания, а также дрейф усиления измерительной схемы, устраняется применением двухлучевой системы, в которой измеряется не абсолютное значение интенсивности света, прошедшего через поглощающее вещество, а ее отношение к интенсивности света просвечивающего источника. [19]
![]() |
Вольт-амперные характеристики фотодиода для фотодиодного режима.| Энергетические характеристики фотодиода [ IMAGE ] - 6. Принцип устройства планарного фотодиода. [20] |
Полупроводниковые фотоэлементы, иначе называемые вентильными или фотогальваническими, служат для преобразования энергии излучения в электрическую энергию. По существу они представляют собой фотодиоды, работающие без источника внешнего напряжения и создающие собственную ЭДС под действием излучения. [21]
Полупроводниковые фотоэлементы характеризуются не строгой линейностью зависимости величины электрического сигнала от освещения. Этот недостаток, равно как и непостоянство чувствительности фотоэлемента, нестабильность его питания, а также дрейф усиления измерительной схемы, устраняется применением двухлучевой системы, в которой измеряется не абсолютное значение интенсивности света, прошедшего через поглощающее вещество, а ее отношение к интенсивности света просвечивающего источника. [22]
Полупроводниковые фотоэлементы с внутренним фотоэффектом, или фотосопротивления, обладают значительно большей чувствительностью, чем описанные выше фотоэлементы, в которых используется внешний фотоэффект. Например, чувствительность фотосо-противления из сульфида кадмия может достигать 1 а / лм. [23]
Полупроводниковые фотоэлементы ооладают рядом преимуществ по сравнении с другими дотаэлектрическами приборами. Некоторые лз них имеют большую чувствительность в инфракрасной части спектра, что позволяет работать с низкотемпературными источниками излучениями. Все фотосопротивления имеют большую интегральную чувствительность и относительно малые размеры. [24]
Полупроводниковые фотоэлементы обладают рядом преимуществ по сравнению с другими фотоэлектрическими приборами. [25]
![]() |
Спектральные характеристики фотоэлементов.| Частотная характеристика фотоэлементов. [26] |
Полупроводниковые фотоэлементы могут использоваться в качестве источников электрической энергии, а также в качестве фотоприемников. [27]
Кремниевые и другие полупроводниковые фотоэлементы применяются в солнечных и ядерных преобразователях и в электроизмерительных приборах. Фотогальванические приемники обладают значительной инерционностью вследствие большой собственной емкости, образованной активным полупроводниковым слоем и электродами. [28]
Недостатком полупроводниковых фотоэлементов является их заметная инерционность: изменение фототока запаздывает относительно изменения освещенности фотоэлемента. [29]
Недостатком полупроводниковых фотоэлементов является их заметная инерционность: изменение фототока запаздывает относительно изменения освещенности фотоэлемента. Поэтому полупроводниковые фото - ммимшмшш элементы не пригодны для регистрации быстропеременных световых потоков. [30]