Спектральная характеристика - фотодиод - Большая Энциклопедия Нефти и Газа, статья, страница 1
Если Вас уже третий рабочий день подряд клонит в сон, значит сегодня среда. Законы Мерфи (еще...)

Спектральная характеристика - фотодиод

Cтраница 1


1 Фотодиод. Вольт-амперные характерн. [1]

Спектральная характеристика фотодиода имеет ярко выраженный максимум, положение которого зависит от материалов, используемых для его изготовления.  [2]

Спектральная характеристика фотодиодов также определяется со стороны больших длин волн шириной запрещенной зоны исходного полупроводникового материала, при малых длинах волн - большим показателем поглощения и увеличением влияния поверхностной рекомбинации носителей заряда с уменьшением длины волны квантов света. Таким образом, коротковолновая граница фоточувствительности фотодиода зависит от толщины базы и от скорости поверхностной рекомбинации.  [3]

4 Конструкция фотодиода на основе барьера Шоттки и его. [4]

Спектральная характеристика фотодиодов подобна аналогичным характеристикам фоторезисторов ( ом.  [5]

Спектральная характеристика фотодиодов также определяется со стороны больших длин волн шириной запрещенной зоны исходного полупроводникового материала, при малых длинах волн - большим показателем поглощения и увеличением влияния поверхностной рекомбинации носителей заряда с уменьшением длины волны квантов света. Таким образом, коротковолновая граница фоточувствительности фотодиода зависит от толщины базы и от скорости поверхностной рекомбинации.  [6]

7 Устройство ( а и условное графическое обозначение ( б германиевого фотодиода.| Вольтамперные харак. теристики германиевого фотодиода. [7]

Спектральные характеристики фотодиодов не отличаются от характеристик фотосопротивлений, выполненных из аналогичных материалов.  [8]

Спектральная характеристика фотодиода отражает характер зависимости чувствительности от длины волны лучистого потока, воздействующего на фотодиод.  [9]

Спектральная характеристика фотодиодов также определяется со стороны больших длин волн шириной запрещенной зоны исходного полупроводникового материала, при малых длинах волн - большим показателем поглощения и увеличением влияния поверхностной рекомбинации носителей заряда с уменьшением длины волны квантов света. Таким образом, коротковолновая граница фоточувствительности фотодиода зависит от толщины базы и от скорости поверхностной рекомбинации.  [10]

11 Структура фотодиода на основе выпрямляющего контакта металл - полупроводник ( а и его энергетическая диаграмма при обратном напряжении ( б. [11]

Таким образом, спектральная характеристика фотодиода на основе контакта металл - полупроводник значительно шире, чем спектральная характеристика фотодиода с р-п-переходом из того же полупроводника.  [12]

13 Энергетическая диаграмма гетероперехода при обратном напряжении и при освещении его квантами света с различной энергией ( Av Av. [13]

Таким образом, спектральная характеристика фотодиода на основе перехода металл - полупроводник значительно шире, чем спектральная характеристика фотодиода с p - n - переходом из того же полупроводника.  [14]

15 Энергетическая диаграмма гетероперехода при обратном напряжении и при освещении его квантами света с различной энергией ( hv hv. [15]



Страницы:      1    2    3    4