Cтраница 3
Для выяснения этой проблемы сравним дифракцию световых волн и микрочастиц. Дифракционная картина, наблюдаемая для световых волн, характеризуется тем, что в результате наложения дифрагирующих волн друг на друга в различных точках пространства происходит усиление или ослабление амплитуды колебаний. Согласно волновым представлениям о природе света, интенсивность дифракционной картины пропорциональна квадрату амплитуды световой волны. [31]
Для выяснения этой проблемы сравним дифракцию световых волн и микрочастиц. Дифракционная картина, наблюдаемая для световых волн, характеризуется тем, что в результате наложения дифрагирующих волн друг на друга в различных точках пространства происходит усиление или ослабление амплитуды колебаний. Согласно волновым представлениям о природе света, интенсивность дифракционной картины пропорциональна квадрату амплитуды световой волны. По представлениям фотонной теории, интенсивность определяется числом фотонов, попадающих в данную точку дифракционной картины. Следовательно, число фотонов в данной точке дифракционной картины задается квадратом амплитуды световой волны, в то время как для одного фотона квадрат амплитуды определяет вероятность попадания фотона в ту или иную точку. [32]
Для выяснения этой проблемы сравним дифракцию световых волн и микрочастиц. Дифракционная картина, наблюдаемая для световых волн, характеризуется тем, что в результате наложения дифрагирующих волн друг на друга в различных точках пространства происходит усиление или ослабление амплитуды колебаний. Согласно волновым представлениям о природе света, интенсивность дифракционной картины пропорциональна квадрату амплитуды световой волны. [33]
При исследовании поверхности металлов принято считать, что структура чистой поверхности должна быть такой же, как структура объемной фазы, определенная по дифракции рентгеновских лучей. Если при этом окажется, что некоторые межплоскостные расстояния отличаются от характерных ( обычно представляющих целые кратные значения) для данного кристалла, то, следовательно, поверхность загрязнена. Примесь может также покрывать поверхность аморфным слоем, который уменьшает интенсивность дифракционной картины несущей поверхности и увеличивает плотность фона за счет рассеивания. [34]
Монохроматический световой пучок, излучаемый лазером, дает возможность непосредственно наблюдать дифракцию света на круглых частицах. Для того, чтобы углы дифракции были значительными, размер частиц должен быть сравнительно малым. Если же в плоскости поперечного сечения лазерного пучка совершенно хаотично расположить N одинаковых круглых частиц, то в силу одинаковой вероятности всех значений фаз колебаний в дифрагировавших по каждому направлению волнах интенсивность дифракционной картины увеличится в N раз, а ее структура не изменится. На экране наблюдается система темных и светлых колец, окружающих светлое центральное пятно. [35]