Интенсивность - линия - элемент
Cтраница 2
В основе всех современных методов количественного спектрального анализа лежит, поэтому, прием, основанный на измерении не абсолютной, а относительной интенсивности линии анализируемого элемента, измеряемой по отношению к интенсивности линии элемента сравнения, содержащегося в той же пробе. В качестве элемента сравнения выбирается обычно основной элемент пробы, либо какой-нибудь дополнительный элемент, специально вводимый в одних и тех же количествах в каждую анализируемую пробу. [16]
Если в пробе нет элементов, которые можно использовать в качестве внутреннего стандарта, то и в пробу и в эталоны с известным содержанием анализируемого элемента вводят определенное количество какого-либо элемента, например титана, хрома или др. Интенсивность линий введенного элемента служит стандартом, с которым сравнивают интенсивность искомых элементов. Если в качестве внутреннего стандарта подходит медь, то можно вести анализ образцов, применяя медные электроды. Например, цинк, магний и другие элементы в резине определяют с применением медных электродов, используя для сравнения интенсивность линии меди. [17]
 |
Тушение атомной флуоресценции паров Hg ( I, I, Fe ( 2, 2, Ag ( 3, 3, Cl ( 4 4 и Bi ( 5 5 кислородом ( сплошные кривые и воздухом ( пунктир. [18] |
Правда, в некоторых местах может быть повышенная концентрация, как это имеет место около анода. Уменьшение атомной концентрации также должно благоприятствовать усилению интенсивности линий элементов. [19]
В работе [222] описано устройство, при помощи которого можно скомпенсировать погрешности, возникающие в процессе введения пробы в источник возбуждения и ее испарения. В этом устройстве осуществляется отрицательная обратная связь между интенсивностью линии элемента сравнения и скоростью введения пробы в плазму дуги. Порошкообразную пробу вводят из камеры в разрядный промежуток пневматически мембраной, на которую действует вибратор. Расход пробы зависит от величины тока, протекающего через обмотку вибратора. Свет от группы линий элемента сравнения поступает на фотосопротивление. Повышение напряжения в сети вызывает увеличение расхода пробы, а это, в свою очередь, усиление интенсивности линий сравнения. От фотосопротивления сигнал поступает на лампу, управляющую величиной тока обмотки вибратора. В итоге уменьшаются величина тока и расход пробы. [20]
 |
Изменение напряжения U в зависимости от времени т. [21] |
Температура факелов достигает 10 000 - 12 000 СС. Для спектрального анализа интерес представляет главным образом вторая стадия разряда, которой определяется интенсивность линий элементов электродов. [22]
В приборах этого типа один из детекторов излучения находится в фиксированном положении и измеряет интенсивность линии элемента сравнения, а другой перемещается вдоль спектра и измеряет интенсивность линий, заданных аналитической программой. [23]
В приборах этого типа один из детекторов излучения находится в фиксированном положении и измеряет интенсивность линии элемента сравнения, а другой перемещается вдоль спектра и измеряет интенсивность линий, заданных аналитической программой. Применение новых электромеханических средств и микропроцессорного управления придали необходимую гибкость и оперативность системам сканирования, обеспечивающим быстрое перемещение от одной спектральной линии к другой и автоматическую остановку выходной щели на заданных аналитических линиях. [24]
Современные методы количественного спектрального анализа основаны на измерении относительной, а не абсолютной интенсивности спектральных линий. Для определения концентрации анализируемого элемента ( элемента примеси) измеряется отношение интенсивности линии анализируемого элемента к интенсивности линии элемента сравнения ( внутреннего стандарта), содержащегося в этой же пробе. В качестве элемента сравнения выбирают либо основной элемент пробы, либо специально вводимый в одних и тех же количествах дополнительный элемент. [25]
В дополнение к статистической обработке для интерпретации результатов полезно применять графический метод. Селидометр был разработан для упрощения пересчета относительных результатов, полученных концентраций по методу Черчилля, путем деления на кажущуюся интенсивность линии элемента основы. На нем в логарифмической шкале нанесены значения интенсивностей линий, взятые с характеристической кривой, а по оси X - - реальные экспозиции пластины. Результирующая кривая представляет собой серию линий, расположенных под углом 45, каждая из которых соответствует результатам для одного из изотопов. Горизонтальное положение линий изотопов одного элемента связано с изотопными отношениями, что можно проверить при помощи наложения логарифмической шкалы. [26]
 |
Вертикальный разрез угольной дуги постоянного тока. [27] |
Дифференциальное уравнение, описывающее пространственное распределение частиц элементов в осе-сим-метричном цилиндрическом разряде, называется уравнением конвективной диффузии. Результаты теоретических расчетов более или менее удовлетворительно согласуются с экспериментальными данными, относящимися к трудноионизуемым элементам, но не объясняют прикатодное усиление линий легкоионизуемых элементов и наличие максимума интенсивности линий элементов со средним - потенциалом ионизации в средней части дуги в присутствии носителя. [28]
 |
Вертикальный разрез угольной дуги постоянного тока. [29] |
Дифференциальное уравнение, описывающее пространственное распределение ластиц элементов в осе-сим-метричном цилиндрическом разряде, называется уравнением кон-вектйвной. Результаты теоретических расчетов более или менее удовлетворительно согласуются с экспериментальными данными, относящимися к трудноионизуемым элементам, но не объясняют прикатодное усиление линий легкоионизуемых элементов и наличие максимума интенсивности линий элементов со средним1 потенциалом ионизации в средней части дуги в присутствии носителя. [30]
Страницы: 1 2 3