Интенсивность - спектральная линия
Cтраница 1
Интенсивность спектральной линии с ростом тсмп-ры сначала увеличивается, а затем, когда становится существенной ионизация, падает. Значение Т, соответствующее макс, интенсивности, зависит от состава плазмы. При известном составе оно может быть заранее рассчитано. Зафиксировав в эксперименте немонотонный ход интенсивности по радиусу столба плазмы данного состава, можно определить зону, где находится максимум темп-ры Т даже не проводя подробных измерений интенсивности. [1]
Интенсивность спектральных линий можно регистрировать фотографически или при помощи счетчика фотонов, расположенного в коробке вместе с входным блоком выпрямителя и стандартной пересчетной схемой с механическим счетчиком импульсов. [2]
Интенсивность спектральных линий позволяет определять ориентацию молекул адсорбата и энергию их. [3]
 |
Типы спектров. [4] |
Интенсивность спектральных линий растет с увеличением концентрации элемента в пробе. [5]
Интенсивность спектральных линий можно измерять по почернению - их изображений на фотографической пластинке, потому что количество свободного серебра увеличивается с увеличением интенсивности светового потока. Конечно, совершенно недостаточно указать только, что почернение одной линии больше или меньше, чем другой. Нужно измерить величину почернения количественно. [6]
Интенсивность спектральной линии увеличивается до определенного максимального значения и при дальнейшем росте температуры убывает, а интенсивность линий ионов увеличивается. Оптимальная величина температуры плазмы, при которой достигается максимальная интенсивность линии, связана с величиной потенциала ионизации атома и энергией возбуждения спектральной линии. [7]
 |
Схема образования плазмы дуги в отсутствие магнитного поля ( 0 Гс и в магнитных полях разной напряженности ( 50, 180 и 900 Гс. [8] |
Интенсивность спектральных линий подвержена значительному воздействию со стороны магнитного поля. В табл. 4.2 приведены соотношения / / / 0 для некоторых спектральных линий ( обычно наибольшей интенсивности и используемых для анализа), характеризующие изменение интенсивности при наложении на дугу противоположно направленных, однородного или неоднородного магнитных полей, В этом соотношении / обозначает интенсивность спектральных линий при наличии магнитного поля, а / 0 - в его отсутствие. Элементы приведены в порядке увеличения их потенциалов ионизации. [9]
 |
Принцип метода последних линий. [10] |
Интенсивность спектральной линии по отношению к фону становится невоспроизводимой величиной, если интенсивность линии зависит от внешних экспериментальных условий. Так, например, при анализе диэлектрического материала, помещенного в кратер вспомогательного угольного электрода, возникновение фона обусловлено главным образом угольными электродами. [11]
 |
Форма записи результатов наблюдений. [12] |
Интенсивность спектральной линии приводится в относительных единицах. В спектре каждого элемента самая слабая линия взята за единицу, и по отношению к ней оценивают интенсивности всех других линий спектра. [13]
Интенсивность спектральных линий в источниках возбуждения определяется как условиями возбуждения, так и кинетикой поступления компонентов пробы в плазму разряда. [14]
 |
Диаграммы энергетических уровней трехсшшовых систем из ядер. [15] |
Страницы: 1 2 3 4 5