Cтраница 5
Измерения интенсивности спектральных линий в атомном эмиссионном спектральном анализе могут осуществляться визуальным, фотографическим и фотоэлектрическим способами. Однако первые два способа имеют скорее историческое значение. [61]
Сравнение интенсивностей спектральных линий некоторых элементов, возбуждаемых в дуговом плазматроне, с интенсивностью тех же линий при использовании сухих остатков растворов на торце электрода показывает, что наблюдается практически такая же картина, как при использовании дуги или искры в атмосфере аргона. Из приведенных экспериментальных данных следует, что в дуговом плазматроне при использовании аргона в качестве плазмообразующего газа наибольшее увеличение интенсивности отмечается для тех линий, потенциал возбуждения которых близок к метастабильным уровням аргона. [62]
![]() |
Освещение щели растровым конденсором. [63] |
Измерения интенсивности спектральных линий в эмиссионном спектральном анлизе могут осуществляться визуальным, фотографическим и фотоэлектрическим способами. Каждый метод имеет свои преимущества, недостатки и оптимальную область применения. [64]
Увеличение интенсивности спектральных линий при увеличении содержания элемента в пробе было замечено уже в первых работах по эмиссионной спектроскопии. [65]