Интенсивность - аналитическая линия
Cтраница 1
Интенсивности аналитических линий определяют сравнением с интенсивностью линий сравнения. [1]
Интенсивность аналитической линии существенно зависит от физико-химических свойств и состава пробы. Это можно объяснить, с одной стороны, разной степенью ослабления лучей в разных по составу пробах, а с другой - эффектами избирательного, взаимного влияния элементов. В целом это приводит к необходимости предварительной и соответствующей подготовки пробы к анализу или учету эффектов взаимного влияния элементов. [2]
Интенсивность аналитической линии, помимо общего характера ослабления, может быть значительно поглощена атомами третьих элементов или, наоборот, усилена их излучением. Такие эффекты носят избирательный характер и связаны с соотношением длин волн линий и границ поглощения взаимно влияющих элементов. Рассмотрим схему, приведенную на оис. [3]
Интенсивность аналитических линий исследованных элементов с низким потенциалом ионизации в большинстве случаев возрастает по мере снижения потенциала ионизации катиона. С повышением потенциала ионизации примесей это правило все больше нарушается, а для кремния и цинка чаще наблюдается обратная картина. [4]
 |
Калибровочный график для. определения хрома в сталях.| Пример нелинейного калибровочного графика. [5] |
Если интенсивность аналитической линии почти такая же, как и интенсивность другой линии ( или фона), то суммарная освещенность меньше зависит от концентрации определяемого элемента, чем освещенность от одной только его аналитической линии. [6]
Измерение интенсивностей аналитической линии и линии сравнения выполняется с помощью системы обтюрации образца и эталона. Чем выше частота обтюрации, тем меньше, в принципе, сказываются изменения параметров рентгеноспектрального аппарата на сравниваемых интенсивностях. [7]
Изменение интенсивности аналитических линий, вызванное только изменением условий ионизации и возбуждения, можно учесть и скорректировать. [8]
Если же интенсивности аналитических линий в эталонах при некоторой концентрации С отличаются от интенсивностен этих же линий при той же концентрации примеси в пробах, то нам известен коэффициент перехода от эталонов к пробам. В этих условиях систематическая ошибка анализа может быть вызвана только неправильным построением градуировочного графика. [9]
Для усиления интенсивности аналитических линий необходимо концентрировать определяемые примеси и создавать условия, обеспечивающие быстрое и полное испарение пробы. [10]
По отношению интенсивности аналитических линий фазы и стандарта с помощью предварительно построенного градуировочно-го графика находят содержание в образце анализируемой фазы так же, как и в случае метода внутреннего стандарта. [11]
Таким образом, интенсивность аналитических линий в разряде быстро убывает, в то время как интенсивность сплошного спектра в первом приближении остается постоянной. Это ограничивает время, в течение которого может проводиться эффективная регистрация спектра. [12]
Вопрос об отношении интенсивности аналитической линии к интенсивности фона иногда рассматривается аналогично вопросу об отношении сигнал - шум в электронных схем. Эта аналогия может ввести в заблуждение. Однако фон состоит и из других слагаемых ( например, наложения линий высших порядков отражения), и не все они могут обоснованно описываться как шумы. [13]
Прибор измеряет отношение интенсивности аналитической линии к интенсивности неразложенного света. Это производится следующим с: Г разом. При пуске прибора зажигается разряд между электродами, и после окончания процесса обжига открывается затвор. [15]
Страницы: 1 2 3 4 5