Cтраница 2
При анализе мы измеряем интенсивность аналитической линии вместе с мешающей ( / ан / м), а также интенсивность линии / Ср. Этот прием будет ниже подробно проиллюстрирован ( см. гл. [16]
Влияние давления гелия на интенсивность аналитических линий ряда элементов ( проба - брикет угольного порошка - помещалась в полость угольного электрода) показано на рис. 4, из которого видно, что интенсивность линий всех рассмотренных элементов с увеличением давления падает; при этом величина падения больше для более труднолетучих элементов. [18]
![]() |
Зависимость интенсивности аналитических линий от скорости сканирования электрода. [19] |
Известно, что увеличение интенсивности аналитических линий связано с введением в анализируемую пробу различных добавок, получивших в спектральном анализе название носителей. [20]
Метод основан на измерении интенсивности аналитических линий он-ределяемых примесей в спектрах, получаемых при испарении элементов из двуокиси гафния или циркония в угольной дуге постоянного или переменного тока. [21]
Остается согласовать их с практической интенсивностью аналитических линий. Рассмотрим это на следующем примере. Пусть в качестве кристалл-анализатора используется слюда. [22]
![]() |
Зависимость интенсивности линий элементов от формы нахождения их в растворе. [23] |
РЬ приводит к соответствующему понижению интенсивности аналитических линий этих элементов. При анализе растворов с осадками интенсивность линий Ni, Sr и РЬ не меняется в зависимости от количества выпавшего осадка. Это означает, что как фильтрат, так и осадок принимают равное участие в излучении спектра. Известно [3], что температура разряда, ограниченного стенками, может достигать нескольких десятков тысяч градусов. Поэтому, при попадании в зону разряда твердых частиц осадка, так же как и частиц жидкости, происходит их испарение и разложение; при этом возбуждаются спектры соответствующих атомов или ионов. [24]
![]() |
Оптическая схема ФЭС-1. [25] |
Для более точной визуальной оценки интенсивностей аналитических линий используют стилометры. Приборы этого типа имеют более современное фотометрическое устройство. [26]
Чувствительность спектрального анализа определяется отношением интенсивности аналитической линии к интенсивности фона вблизи нее. Тем самым увеличение чувствительности может быть достигнуто либо увеличением интенсивности аналитических линий, либо уменьшением интенсивности фона спектра. [27]
Задача количественного анализа решается измерением интенсивности специально выбранных аналитических линий определяемого элемента. [28]
Предварительно устанавливается количественная связь между интенсивностью аналитической линии ( или относительной интенсивностью-аналитической пары) и. Пользуясь этой эмпирической зависимостью и данными измерении Интенсивностей фикс-пары в спектрах анализируемой пробы, вносят соответствующие поправки / в результаты измерений интенсивностей аналитических линий, что позволяет вести количественные определения по единым графикам. [29]
Предварительно устанавливается количественная связь между интенсивностью аналитической линии ( или относительной интенсивностью аналитической пары) и относительной интенсивностью фикс-пары для ряда концентраций определяемого элемента в пробах разного состава. Пользуясь этой эмпирической зависимостью и данными измерений интенсивностей фикс-пары в спектрах анализируемой пробы, вносят соответствующие поправки в результаты измерений интенсивностей аналитических линий, что позволяет вести количественные определения по единым графикам. [30]