Интенсивность - лучая
Cтраница 1
Интенсивность лучей пропорциональна квадрату модуля его амплитуды. [1]
Интенсивность лучей регистрируют несколькими методами. Методами фотографии получают снимок детали ( материала) на пленке. Визуальный метод основан на наблюдении изображения детали на флуоресцирующем экране. Наиболее эффективен этот метод при использовании электронно-оптических преобразователей. Ксерографическим методом получают изображения на металлических пластинках, покрытых слоем вещества, поверхности которого сообщен электростатический заряд. [2]
Интенсивность лучей пропорциональна квадрату абсолютной величины его амплитуды. [3]
Интенсивностью лучей называется количество лучистой энергии, падающее за одну секунду на площадку в один квадратный сантиметр, поставленную перпендикулярно направлению потока лучей. [4]
Поэтому интенсивность лучей, прошедших через анализатор, будет в общем случае различна для средней и крайних частей поля зрения. [5]
 |
Схема рентгеновской трубки. [6] |
Ослабление интенсивности лучей при прохождении через просвечиваемые предметы зависит от химического состава и толщины материала, а также от жесткости излучения. [7]
 |
Изменение коэффициента пог. лощения для железа и молибдена в зависимости от длины волны рентгеновых лучей. [8] |
Уменьшение интенсивности лучей происходит вследствие поглощения, связанного с трансформацией энергии фотонов в другие виды энергии, и рассеяния части энергии излучения электронами просвечиваемого вещества. [9]
Ослабления интенсивности лучей вследствие поглощения в кристалле не происходит. [10]
Разница в интенсивности лучей после прохождения через различные участки просвечиваемого тела вызывает изменение тока в ионизационной камере и показаний измерительного прибора, позволяющее судить о наличии дефектов. Ионизационным методом нельзя установить характера, формы или расположения дефекта, так как прибор отмечает суммарный эффект от проникающего в камеру пучка лучей. Этот метод успешно применяется для определения толщины стенок ( например, котла) и выявления разностенности. [11]
В действительности интенсивность лучей, отраженных от тех или других плоскостей, практически одинакова. Это указывает на то, что кристалл NaF построен не из атомов, а из ионов. [12]
Направление и интенсивность лучей, возникающих при дифракции, регистрируют счетчиком рентгеновских квантов или фотографическим способом. При фотографическом способе регистрации на специальной рентгеновской пленке в месте попадания па нее дифрагированного луча возникает ( на негативе) почернение - рефлекс Положение рефлекса па рентгенограмме характеризует направление дифрагированного луча; степень почернения определяется интенсивностью луча. Для расчета направлений дифрагированных лучей применяют уравнение Вульфа - Брэгга. [13]
Амплитуду и интенсивность лучей, рассеянных атомом или совокупностью атомов, часто измеряют в электронных единицах. [14]
Направление и интенсивность лучей, возникающих при дифракции, регистрируют счетчиком рентгеновских квантов или фотографическим способом. При фотографическом способе регистрации на специальной рентгеновской пленке в месте попадания па нее дифрагированного луча возникает ( на негативе) почернение - рефлекс Положение рефлекса на рентгенограмме характеризует направление дифрагированного луча; степень почернения определяется интенсивностью луча. Для расчета направлений дифрагированных лучей применяют уравнение Вульфа - Брэгга. [15]
Страницы: 1 2 3 4