Cтраница 3
Двигатель перемещает клин 6 до уравнивания интенсивностей лучей. [31]
В самом деле, спектрофотометрическая установка позволяет измерять интенсивность лучей / н и / 0, прошедших соответственно через необработанную и обработанную в растворе изучавшегося вещества половинки препарата с нанесенным эмульсионным слоем. [32]
Если толщина металла, через который проходят у-лучи, различна, интенсивность лучей в разных точиЬх его будет также различна. [33]
![]() |
Рентгеновский снимок сварного шва ( пример для пояснении оценки данных. [34] |
Возможность находить скрытые дефекты способом проходящего у-излучения основывается на различном ослаблении интенсивности лучей при прохождении через бездефектный или имеющий дефект материал. [35]
Если кристаллические области расположены не хаотично, а в известном порядке, интенсивность лучей по разным образующим конусов будет неодинаковой и степень почернения в различных точках кольца на фотопленке - также неодинаковой. [36]
Для приближенных расчетов можно принять, что и интенсивность рассеяния атомом равна сумме интенсивности лучей, рассеянных его z электронами. [37]
Радиоактивные плотномеры основаны на том, что при прохождении гамма-лучей через слой какого-либо вещества интенсивность лучей уменьшается в зависимости от плотности вещества. С помощью радиоактивных плотномеров можно бесконтактно определять плотность как твердых, так и жидких веществ. [38]
Легко видеть, что ц, Ш0, где d0 - толщина слоя, уменьшающего интенсивность лучей в е 2 718 раз. Иногда жесткость лучей характеризуют толщиной поглощающего слоя определенного вещества ( обычно алюминия), способной ослабить интенсивность рентгеновского излучения в два раза. [39]
Эффект ослабления первичного луча при прохождении сквозь кристалл сводится, следовательно, просто к изменению интенсивности лучей, воздействующих на отдельные блоки. Учесть этот эффект, в принципе, нетрудно. Закон ослабления лучей при прохождении через среду нам известен ( том 1, стр. [40]
![]() |
К выводу Вульфа-Брэггов. [41] |
Если кристалл достаточно велик ( не меньше 300 - 500 ячеек в поперечнике), то интенсивность лучей, рассеянных вдоль направлений, не удовлетворяющих трем уравнениям Лауэ, практически может быть принята равной нулю. [42]
Если вместо образцовой детали в держатель 2 поместить теперь испытуемую деталь с некоторой разностенностью, то интенсивности лучей, попадающих в камеры, будут различны, и стрелка измерителя отклонится от нуля. [43]
Легко видеть, что ц I / do, где do - толщина слоя, уменьшающего интенсивность лучей в е 2 718 раз. Иногда жесткость лучей характеризуют толщиной поглощающего слоя определенного вещества ( обычно алюминия), способной ослабить интенсивность рентгеновского излучения в два раза. [44]
Объединение пульта управления и оперативного стола в установке УРС-50И вызывается тем, что при ионизационном методе измерения интенсивности лучей оператор должен находиться непосредственно у оперативного стола. Это обстоятельство требует от лиц, работающих на ионизационной установке, особой внимательности и осторожности. При проведении эксперимента необходимо принимать все возмож. [45]