Интенсивность - лучая
Cтраница 2
Направление и интенсивность лучей, возникающих при дифракции, регистрируют счетчиком рентгеновских квантов или фотографическим способом. При фотографическом способе регистрации на специальной рентгеновской пленке в месте попадания - на нее дифрагированного луча возникает ( на негативе) почернение - рефлекс. Положение рефлекса на рентгенограмме характеризует направление дифрагированного луча; степень почернения рефлекса определяется интенсивностью луча. Для расчета направлений дифрагированных лучей применяют уравнение Вульфа-Брэгга. [16]
Для определения интенсивности лучей, прошедших через поляризатор, кристалл и анализатор, вычислим амплитуду Ар результирующего колебания интерферирующих лучей. [17]
При указанных предположениях интенсивность лучей, идущих извне внутрь области, заключенной между поверхностью клина и скачком уплотнения, равна нулю ( Д ( /) 0)) и, в силу того, что S 1, решение (7.6) обращается в нуль. [18]
 |
Схема, иллюстрирующая поглощение тепла пучком радиантных труб. [19] |
В соответствии с законом Ламберта интенсивность лучей, попадающих в точку А, будет различной: максимальную интенсивность 0 имеет луч, перпендикулярный к касательной в токе А. [20]
В соответствии с законом Ламберта интенсивность лучей, попадающих в точку А, будет различной: максимальную интенсивность г 0 имеет луч, перпендикулярный к касательной в токе А. [21]
 |
Поглощение тепла пучком радиаитиых труб. [22] |
В соответствии с законом Ламберта интенсивность лучей, попадающих в точку А, будет различной: максимальную интенсивность io имеет луч, перпендикулярный к касательной в точке А. [23]
ОДА, и рассматривается только интенсивность лучей, прошедших через деталь в направлении падающего пучка и ослабленных в результате истинного поглощения и рассеяния по всем направлениям. В этом случае 0ат, мм2, мм, равны соответственно ( Тат. [24]
 |
Разложение сложной ячейки на ряд примитивных. [25] |
Из сказанного следует, что интенсивности лучей, отраженных от одних и тех же плоскостей примитивной и сложной ячеек, различны. При этом интенсивность интерференционных максимумов пропорциональна структурной амплитуде F, которая показывает, во сколько раз амплитуда колебаний лучей, рассеянных сложной ячейкой, больше амплитуды колебания лучей, рассеянных одним электроном. Величину, равную квадрату структурной амплитуды F kl, называют структурным множителем. [26]
По мере увеличения длины волны интенсивность лучей проходит через максимум, а затем быстро падает. Лучи белого спектра с длиной волны 0 8 - 1 0 А и больше практически нацело поглощаются стеклом трубки. Можно, следовательно, приблизительно задать и верхний предел размерам обратных решеток. Такие отрезки, которые целиком лежат внутри или вне сферы отражения, интереса для нас не представляют. Эффективны для отражения только те отрезки, которые пересекают сферу отражения. [27]
Все они основаны на измерении интенсивности лучей, проходящих через раствор или образец анализируемого вещества, и определении концентрации последнего по величине светопоглощения. [28]
При соответствующем положении поляризатора и анализатора интенсивность лучей, вышедших из анализатора, зависит от разности фаз б и, следовательно, от величины двойного лучепреломления. Если задано только положение поляризатора, то экстремальное значение интенсивности / в зависимости от угла поворота анализатора можно найти дифференцированием уравнения интенсивности. [29]
Легко показать, что при изменении интенсивности лучей, действующих на сетчатку, отношения не меняются. [30]
Страницы: 1 2 3 4