Интенсивность - отраженные лучей
Cтраница 2
Итак, дифракционная симметрия - это та симметрия, которая выявляется по совпадению брегговских углов & и интенсивности отраженных лучей. [16]
Матосси, работал по методу отражения инфракрасных лучей, а основании исследования силикатных стекол, содержащих барий, пришел к выводу, что интенсивность отраженных лучей определяется двумя координациями [ SiO4 ] и [ Ва06 ]; в частности, для [ BaOs ] этот вывод подтверждается сходством этой группы с группировками в кристаллической структуре бенитоита ( см. А. В чистом стекле борного ангидрида Андерсон наблюдал относительно большое количество групп [ ВаО4 ]; этот результат резко противоречит результатам, полученным при изучении дифракции рентгеновских лучей ( см. А. [17]
Если пластинка сделана из прозрачного вещества ( например, стекла) и падение луча близко к нормальному, то коэффициенты отражения будут малы. Интенсивности многократно отраженных лучей при этом оказываются настолько малыми, что их влиянием на вид интерференционной картины можно пренебречь. Именно на этом и базируется изложенное выше рассмотрение двухлучевых интерферометров, в частности, типа Жамеиа и Май-кельсона. Многолучевая интерферометрия использует диаметрально противоположный случай, когда коэффициенты отраженна велики. Это достигается либо путем нанесения на отражающие поверхности тонкой пленки вещества с большим коэффициентом отражения, либо за счет больших углов падения. [18]
 |
Решетка каменной соли.| Простая кубическая решетка. [19] |
Отдельные точки ( узлы) в таких решетках поочередно заняты атомами ( точнее - ионами, ибо атомы, как будет лидно из дальнейшего, заряжены) щелочного металла и галогена. Согласно Брэггу, интенсивность отраженных лучей зависит не только от количества узлов решетки, но и от атомного веса частиц, занимающих эти узлы. Брэгг установил, что эта интенсивность пропорциональна квадрату атомного веса. Так как атомные веса К и С1 близки между собой, то кристалл К. [20]
Однако в случаях, когда интенсивности многократно отраженных лучей близки друг к другу, учет их вклада в общую интенсивность является обязательным. Реализация упомянутого случая - случая многолучевой интерференции - определяется значениями коэффициентов отражения и пропускания. [21]
Отраженные от границы раздела лучи ( рис. 1.1) тоже несут информацию о показателях преломления. Соотношение п и п2 влияет на интенсивность отраженных лучей, их поляризацию и сдвиг фазы. Все эти свойства отраженного света зависят также от направления и поляризации падающих на границу раздела лучей, так что общие формулы, связывающие все эти параметры, оказываются достаточно сложными ( см. гл. Однако в тех случаях, когда определение направления преломленного пучка лучей невозможно из-за высокого коэффициента поглощения, неоднородности или малых размеров преломляющей среды, исследование отраженного света становится главным способом измерения показателей преломления, составляющим основу ряда важных методов, рассматриваемых в гл. [22]
 |
Камера для получения рентгенограмм по методу вращения кристалла. [23] |
Разумеется, через атомы в кристаллической решетке можно провести очень много плоскостей. Однако плотность заполнения многих плоскостей атомами невелика, и поэтому отражение от них будет слабым; только от немногих плоскостей, получается яркое отражение. Интенсивности отраженных лучей неодинаковы и за висят от числа атомов, приходящихся на единицу площади плоскости отражения, а также от рассеивающей способности атомов данного вида. [24]
 |
Камера для получения рентгенограмм по методу вращения кристалла. [25] |
Разумеется, через атомы в кристаллической решетке можно провести очень много плоскостей. Однако плотность заполнения многих плоскостей атомами невелика, и поэтому отражение от них будет слабым; только от немногих плоскостей, получается яркое отражение. Интенсивности отраженных лучей неодинаковы и зависят от числа атомов, приходящихся на единицу площади плоскости отражения, а также от рассеивающей способности атомов данного вида. [26]
 |
К выводу уравнения Брегга-Вульфа. [27] |
Разумеется, через атомы в кристаллической решетке можно провести очень много плоскостей. Однако плотность заполнения многих плоскостей атомами невелика, поэтому отражение от них будет слабым; только от немногих плоскостей достигается яркое отражение. Интенсивность отраженных лучей неодинакова и зависит от числа атомов, приходящихся на единицу площади плоскости отражения, а также от рассеивающей способности атомов данного вида. [28]
С целью уменьшения отражения света путем нанесения однослойной пленки используются прозрачные пленки с меньшим показателем преломления, чем у обрабатываемой детали. При этом уменьшение количества отражаемого света происходит вследствие интерференции лучей, отраженных от границ пленка - воздух и пленка-стекло. Значение показателя преломления пленки подбирается таким образом, чтобы интенсивности отраженных лучей / и 2 ( рис. 30) от обеих границ пленки были бы равны. Если толщина пленки обеспечивает разность хода отраженных лучей, равную половине длины волны Я, падающего излучения, то лучи 1 и 2 вследствие интерференции уничтожаются. [29]
 |
Схема приема прямого и отраженного сигнала при движении стационарного шумового источника с постоянной скоростью над импедансной поверхностью. [30] |
Страницы: 1 2 3