Интенсивность - отраженные лучей
Cтраница 3
Вопросы излучения и приема звука движущимися источниками и приемниками рассматривались различными авторами с точки зрения влияния движения на характеристики направленности, а также на эффекты, связанные с доплеровским частотным смещением. Отражение шумового сигнала от импедансной поверхности при этом не учитывалось, поскольку предполагалось, что интенсивность отраженных лучей пренебрежимо мала в сравнении с прямым излучением. Однако в ряде случаев такое пренебрежение либо не оправдано, либо не оценивается должным образом. При этом установлен ряд существенных специфических особенностей в структуре принимаемого сигнала, к рассмотрению которых мы сейчас и перейдем. [31]
В сильных вертикальных электрических полях грозовых облаков можно ожидать переориентацию длинной оси ледяных кристаллов игольчатой и пластинчатой форм с горизонтального положения на вертикальное. Действительно, по наблюдениям Воннегута [557], в кристаллических вершинах грозовых облаков возникают своеобразные оптические явления в виде световых полос, которые, вероятно, вызываются упорядоченным поворотом ледяных кристаллов под действием электрического поля. Была обнаружена связь между интенсивностью отраженных лучей и моментами наступления грозовых разрядов, что можно объяснить изменением ориентации ледяных кристаллов под действием электрического поля до и после разрядов. [32]
Первые определения структуры кристаллов были проведены в 1913 г. В. Л. Брэггом, в то время студентом Кембриджского университета, исследовавшим по методу Лауэ строение каменной соли ( NaCl) r сильвина ( - К. В настоящее время строение таких кристаллов определяется гораздо проще, а именно путем облучения кристаллов рентгеновскими лучами известной длины волны, так как теперь измерение длин волн рентгеновских лучей производится очень просто, с использованием для этой цели кристаллических дифракционных решеток с известными межплоскостными расстояниями. Отдельные точки ( узлы) в таких решетках поочередно заняты атомами ( точнее - ионами, ибо атомы, как будет видно из дальнейшего, заряжены) щелочного металла и галогена. Согласно Брэггу, интенсивность отраженных лучей зависит не только от количества узлов решетки, но и от атомного веса частиц, занимающих эти узлы. Брэгг установил, что эта интенсивность пропорциональна квадрату атомного веса. Очевидно, приведенная на рис. 44 решетка уже не будет соответствовать этому типу, если образующие ее атомы будут различными. [33]
 |
Сопоставление изменения амплитуд рассеяния. [34] |
Другой важной особенностью поведения нейтронов при дифракционных исследованиях кристаллов является исключительно небольшой коэффициент поглощения их веществом, который обычно для одного и того же вещества в сотни раз меньше, чем коэффициент поглощения рентгеновских лучей. Это обстоятельство делает возможным использование очень больших кристаллов при исследованиях методом дифракции нейтронов. Но с этим одновременно связаны некоторые затруднения. При рентгеноструктурных исследованиях не сталкиваются с проблемой вторичного гашения. Оно состоит-в кажущемся увеличении поглощения и уменьшении интенсивности отраженных лучей вследствие того, что при сильном отражении некоторые падающие пучки отражаются назад-и не достигают внутренних мозаичных блоков кристалла. При рентгеноструктурных исследованиях, если работают с очень малыми кристаллическими частицами размерами около 0 1 мм, это явление не играет важной, роли. [35]
Страницы: 1 2 3