Интенсивность - прошедшее
Cтраница 1
Интенсивность прошедших через тело лучей фиксируется на пленке, у-лучи позволяют обнаруживать дефекты ( в направлении лучей) размером больше 5 % от толщины просвечиваемого металла и больше 0 4 - 0 5 мм в направлении, перпендикулярном к направлению лучей. Этот метод удобен в том отношении, что ампула может быть доставлена по любому адрес, а просвечивание произведено на месте установки без демонтажа. [1]
 |
Спектрофотометри - ряют поглощение ( или отражение мо. [2] |
Интенсивность прошедшего или отраженного света регистрируется фотоэлементами. [3]
 |
Методы измерения содержания солей. [4] |
Интенсивность прошедшего через кювету излучения преобразуется в пропорциональные ей электрические сигналы. Измерение отношения сигналов осуществляют последовательным функциональным амплитудно-временным и время-импульсным преобразователями. Для уменьшения влияния случайных флуктуации влажности могут автоматически усредняться данные последних десяти анализов. Содержание солей является одним из показателей качества подготовленной нефти. Существующие методы измерения содержания солей ( рис. 50) относятся к косвенным и их можно разделить на химические и физические. [5]
Интенсивность прошедшего через раствор света меняется не только от концентрации и высоты слоя раствора, но и от изменения интенсивности входящего светового потока. [6]
Интенсивность прошедшего через спектрограф или интерферометр света регистрируется как функция длины волны. Спектральное разрешение ограничено разрешающей силой этих приборов. Очень большие усилия затрачены на то, чтобы улучшить разрешение путем использования больших спектрографов с дифракционными решетками ( с фокусным расстоянием до девяти метров) или же высокодисперсионных интерферометров типа фурье-спектрометров, которые дают разрешение молекулярных линий поглощения, ограниченного доп-леровским уширением. Максимальную чувствительность определяют измерением наименьшего ослабления света в поглощающей ячейке, а нижний предел - флуктуациями интенсивности источника света и шумом детектора. [8]
Соотношение интенсивностей прошедшего и падающего лучистых потоков измеряется приемником излучения. Нерегистрирующие приборы ввиду их меньшей стоимости часто выполняют по однолучевой схеме. В этих приборах интенсивности потоков излучения измеряют последовательно по одному каналу. [9]
Соотношение интенсивностей прошедшего и падающего лучистых потоков измеряется приемником излучения. [10]
Расчет интенсивности прошедшего и дифрагированного пучков в зависимости от толщины кристалла и его ориентации в двухвол-новом приближении приводился в гл. В первом приближении этот расчет дает объяснение многим наблюдениям, касающимся толщины полос и экстинкционных контуров в светлопольной и темно-польной электронной микроскопии. [11]
Измеряя зависимость интенсивности прошедшего через поглотитель ( или рассеянного) излучения от V, получают мессбауэровский спектр, характеристиками к-рого являются положение линий в шкале скоростей, их число, относит, интенсивность, форма и площаль. [12]
Измеряя зависимость интенсивности прошедшего через поглотитель ( или рассеянного) излучения от V, получают мессбауэровский спектр, характеристиками к - poro являются положение линий в шкале скоростей, их число, относит, интенсивность, форма и площадь. [13]
Содержание связующего оценивается по интенсивности прошедшего через образец света с длиной волны 0 8 - 1 1 мкм. Источником света служит лампа накаливания, приемником - фотодиод. [14]
ФЭУ-17А, измеряем зависимость интенсивности прошедшего через камеру в горизонтальном направлении светового луча / от высоты. [15]
Страницы: 1 2 3 4