Интенсивность - прошедшее - Большая Энциклопедия Нефти и Газа, статья, страница 3
Каждый, кто часто пользуется туалетной бумагой, должен посадить хотя бы одно дерево. Законы Мерфи (еще...)

Интенсивность - прошедшее

Cтраница 3


Ультразвуковой теневой метод, основанный на ослаблении интенсивности прошедших через деталь ультразвуковых волн при наличии дефекта на их пути, применяют для выявления дефектов в изделиях небольших толщин. Результаты контроля записываются на шлейфовом осциллографе, производительность которого до 0 58 м2 / мин. Размеры дефектов оценивают по записи, относительному изменению уровня сигнала и протяженности зоны, в которой наблюдается уменьшение сигнала.  [31]

Установить николи в положения перекрещивания по наблюдениям изменения интенсивности прошедшего через них света с большой точностью очень трудно.  [32]

Фотоколориметрическое определение концентрации окрашенного соединения основано на измерении интенсивности прошедшего через раствор света, которое производится непосредственно по измерению величины возникающего фототока с помощью гальванометра. Часть лучей света, проходя через окрашенный раствор, поглощается, часть света, оставшаяся непоглощенной, падает на фотоэлемент и возбуждает в нем очень слабый электрический ток ( фототок), прямо пропорциональный интенсивности падающего на него света.  [33]

Установить николи в положения перекрещивания по наблюдениям изменения интенсивности прошедшего через них света с большой точностью очень трудно. Поэтому для повышения точности наблюдений в поляриметр вводятся добавочные оптические части. Поле зрения в таком поляриметре кажется разделенным на две половины.  [34]

35 Отражательная способность границы раздела /. и пропускание для первого проходящего пучка Т диэлектрического слоя в случае, когда плоскость колебания электрического вектора перпендикулярна плоскости падения.| Зависимость отношения интенсивностей прошедшего и отраженного пучков от угла падения пучка на плоскопараллельный диэлектрический слой с естественными границами. [35]

Меняя углы падения, можно получить различные соотношения интенсивностей прошедшего и отраженного пучков. Как видно из графика, приведенного на рис. 74, их отношение увеличивается при уменьшении угла падения.  [36]

Вращая кристалл Ti вокруг направления луча, никаких изменений интенсивности прошедшего через турмалин света не наблюдаем.  [37]

38 Электронные спектры испускания ( I и поглощения ( Ц. Указаны времена жизни ( т, с и типы ( 5, 5, 52, Г эиергетич. состояний. Е - энергия. X - длины волн. V - волновые числа линий поглощения или испускания.| Расщепление энергетического уровня электрона в постоянном магнитном поле. Е0 - уровень в отсутствие поля, Е ] и Е2 - уровни, возникающие в присутствии поля Н. [38]

Поглощение света в-вом характеризуют обычно пропусканием, равным отношению интенсивностей прошедшего и падающего пучков, либо коэф.  [39]

Вращая кристалл Ti вокруг направления луча, никаких изменений интенсивности прошедшего через турмалин света не наблюдаем.  [40]

Появление сигнала между зондирующими и донными импульсами или ослабление интенсивности прошедших через металл ультразвуковых колебаний указывает на наличие дефекта. Отраженные от границы раздела сред ( дефекты титла нарушения сплошностей), имеющих различные акустические свойства, ультразвуковые волны, попадая на пьезопластину, вызывают электрические колебания, которые усиливаются и поступают на экран дефектоскопа. Настраивая дефектоскоп на поисковую чувствительность, определяют способ прозву-чивания, тип преобразователей и пределы их перемещения, а также характер ожидаемых дефектов. Особое внимание уделяют тем дефектам, отражение от которых можно получить лишь тогда, когда их поверхность перпендикулярна к акустической оси преобразователя.  [41]

Появление сигнала между зондирующим и допными импульсами или ослабление интенсивности прошедших через металл ультразвуковых колебаний указывает на наличие дефектов.  [42]

Знак минус показывает, что с увеличением толщины поглощающего слоя интенсивность прошедшего через него света уменьшается.  [43]

По существу, это фотоэлектрический спектрофотометр, с помощью которого сравнивают интенсивность прошедшего через аэрозоль света для двух значений Я.  [44]

45 Схема просвечивания относительно небольшого дефекта. [45]



Страницы:      1    2    3    4