Интенсивность - прошедшее
Cтраница 2
 |
Оптическая схема для измерения двойного лучепреломления. [16] |
В коллоидных и дисперсных системах интенсивность прошедшего через систему света уменьшается не только за счет поглощения, но и за счет рассеяния света частицами дисперсной фазы. Поэтому, применяя уравнение Ламберта - Бэра к окрашенным коллоидам, кроме коэффициента светопо-глощения, приходится учитывать еще коэффициент светорассеяния. [17]
В коллоидных и дисперсных системах интенсивность прошедшего через систему света уменьшается не только за счет поглощения, но и за счет рассеяния света частицами дисперсной фазы. Поэтому, применяя уравнение Ламберта - Беера к окрашенным коллоидам, кроме коэффициента светопоглощения, приходится учитывать еще коэффициент светорассеяния. [18]
Схемы, показывающие периодическое изменение интенсивности прошедшего и рассеянного пучков в случае совершенного кристалла в соответствии с кинематической и динамической теориями. [19]
Спектр поглощения записывается как зависимость интенсивности прошедшего через образец излучения от длины волны. [20]
 |
ИК-спектр этанола ( в газогюй фазе. [21] |
Поглощение ПК-излучения фиксируется как ослабление интенсивности I прошедшего через образец света по отношению к исходной интенсивности 1о и выражается в виде процента пропускания - Т % I / Io-100. Волновое число обычно называют частотой. Хотя поглощение энергии квантовано, ИК-спектр состоит не из узких пиков, а из полос. Это обусловлено тем, что каждое изменение колебательной энергии сопровождается изменениями вращательной энергии и к колебательному переходу примешиваются вращательные переходы. [22]
 |
Радиационный контроль объектов сложной формы с применением компенсаторов. [23] |
Яркость изображения на индикаторе определяется интенсивностью прошедшего сквозь лист излучения. [24]
Ультразвуковой теневой метод основан на ослаблении интенсивности прошедших через изделие УЗ волн при наличии дефекта на пути УЗ пучка. Применяется для выявления дефектов в металлич. Для передачи УЗ воли используется иммерсионный или контактный способ. Теневой метод применяется в обычном и зеркальном вариантах. Приемная головка 4 преобразует прошедшие через изделие УЗ волны в электрич. [25]
Ультразвуковой теневой метод основан на ослаблении интенсивности прошедших через изделие УЗ волн при наличии дефекта на пути УЗ пучка. Применяется для выявления дефектов в металлич. Для передачи УЗ волн используется иммерсионный или контактный способ. Теневой метод применяется в обычном и зеркальном вариантах. Приемная головка 4 преобразует прошедшие через изделие УЗ волны в электрич. [26]
Амплитудный метод контроля основан на регистрации интенсивности прошедших через изделие или отраженных от него мик рорадиоволн. Измеряемыми величинами при амплитудном методе контроля являются коэффициенты прохождения и отражения, по казатель затухания. Эти коэффициенты связаны с диэлектрической проницаемостью и толщиной стенки контролируемого изделия. [27]
Ультразвуковой теневой метод основан на ослаблении интенсивности прошедших через изделие УЗ волн при наличии дефекта на пути УЗ пучка. Применяется для выявления дефектов в металлич. Для передачи УЗ волн используется иммерсионный или контактный способ. Теневой метод применяется в обычном и зеркальном вариантах. Приемная головка 4 преобразует прошедшие через изделие УЗ волны в электрич. [28]
Эффективность защитной пленки определяют путем измерения интенсивности прошедшего через спектрофотометр света, а возможность обесцвечивания защитного красителя во время эксплуатации пленки проверяют повторным измерением после испытания на стойкость к излучению. Поглотители ультрафиолетовых лучей часто флуоресцируют с последующим испусканием поглощенного излучения Q виде голубого света. [29]
В общем случае для некоторого момента времени интенсивность прошедшего через образец света равна за анализатором, скрещенным по отношению к поляризатору. [30]
Страницы: 1 2 3 4