Интенсивность - пятно
Cтраница 1
Интенсивность пятен зависит от количества, типа и взаимного расположения атомов в решетке. [1]
 |
Параметры элементарной ячейки хлорбромйодаатов щелочных металлов. [2] |
Интенсивности пятен оценивались визуально по маркам почернения. [3]
 |
Рентгенограмма кристалла. [4] |
Интенсивность пятен на данной линии варьирует регулярным образом. Это позволяет заключить, что геометрическое расположение пятен на рентгенограмме связано определенным образом с геометрическим расположением атомов в кристаллической решетке и с расположением серии плоскостей, от которых происходит дифракция. Эта взаимосвязь определяется законом Брэгга: расстояние каждого рефлекса от центра рентгенограммы обратно пропорционально расстоянию между соответствующими плоскостями в кристалле. [5]
Измерив интенсивность пятен, можно определить взаимное расположение атомов в молекуле. [6]
 |
Стереоскопический чертеж молекулы витамина В12, вычерченный компьютером.| Распределение электронной плотности в кристалле LiF. [7] |
Анализ интенсивности пятен позволяет сделать расчет распределения электронной плотности в кристалле. Таким путем узнают, являются ли исследованные кристаллы ионными, ковалент-ными, металлическими или молекулярными. На рис. 118 показано распределение электронной плотности в кристалле LiF. [8]
Анализ интенсивности пятен позволяет сделать расчет распределения электронной плотности в кристалле. Таким путем узнают, относятся исследованные кристаллы к атомным, ионным, металлическим или молекулярным, а также устанавливают тип химической связи в молекулах и кристаллах. На рис. 125 показано распределение электронной плотности в кристалле LiF. Характер расположения кривых равной электронной Г1ЛОТНО - сти ( в единицах el К 3) свидетельствует о преимущественном проявлении ионной связи. [9]
Гаркина определяет интенсивность пятен, проявленных трех-хлористой сурьмой, либо визуально, либо вымывает их при 40 спиртом, отфильтровывает выпавший после охлаждения парафин, остаток экстракта растворяет в хлороформе и анализирует его колориметрическим методом, используя для этой цели реакцию с треххлористой сурьмой. [10]
Сравнивая визуально интенсивность пятна соли Шеффера в техническом продукте с пятнами эталонных растворов, можно приблизительно определить количество примеси соли Шеффера и R-соли. [11]
Методом сравнения интенсивности пятен было обнаружено, что при длительном хранении эдитона содержание в нем этилентиомо-чевины заметно возрастало, в то время как содержание этиленти-ураммоносульфида и этилентиурамдисульфида практически оставалось неизменным или же изменялось настолько, что это увеличение в условиях эксперимента оценить не удавалось. [12]
Как качественно зависит интенсивность пятна Пуассона от расстояния до непрозрачного экрана. [13]
По результатам измерения интенсивности пятен рентгенограммы определен характер расположения атомов внутри чередующейся структурной единицы. Правда, этот метод во многом носит эмпирический характер. Зная химическое строение волокна и длину чередующейся структурной единицы, а также используя данные о расстояниях между атомами и величинах валентных углов, можно построить модели макромолекул. Было установлено, что некоторые модели неправильно отражают величину чередующегося звена; поэтому они должны быть отвергнуты. Если можно построить только одну модель, правильно отражающую величину чередующейся единицы, она может быть принята с достоверностью. Так, например, для нейлона, у которого длина повторяющегося звена, определенная экспериментально, равна 17 2А, возможна лишь одна пространственная модель. В том случае, когда при данной величине структурной единицы может быть построено более одной модели макромолекулы, возникает неуверенность в правильности описания действительной конфигурации макромолекулы. Точно такая же неопределенность возникает при определении других размеров чередующегося звена. [14]
 |
Стеклянная крышка. [15] |
Страницы: 1 2 3 4