Интенсивность - пятно
Cтраница 3
Вещества идентифицируют по значениям Rf, о их количествах судят по интенсивности пятен на проявленной хроматограмме. [31]
 |
Дифракционные картины от четырех молекул гексамстпл. [32] |
Фазы заранее неизвестны ( мы видим и измеряем на практике только интенсивность пятен), поэтому необходимо прибегнуть к методу изоморфного замещения. Для этого вводим в структуру нашей молекулы лишнюю освещенную точку в определенном месте. [33]
Эффект того же типа наблюдается и в ДМЭ, но поскольку интенсивность пятен ДМЭ формируется лишь в первых нескольких атомных слоях кристалла, то правильной величиной для ( и2) будет ее величина для поверхностных атомов. По мере возрастания энергии падающих электронов глубина их проникновения в кристалл возрастает, а соответствующая величина ( и2 будет изменяться от ее поверхностного значения к преимущественно объемной. [34]
 |
Прецессионная фотография, изображающая сетку ЛИ соединения [ Cu2 ( tren 2 ( CN2 ] ( BPh4 2. Ось а горизонтальна ( ось подвеса кристалла, а ось Ъ вертикальна. [35] |
В следующем разделе будет дан количественный анализ факторов, приводящих к изменению интенсивностей зарегистрированных пятен. Мы уже сталкивались с тем, что интенсивность зависит от точного распределения электронной плотности в элементарной ячейке. Поскольку элементы симметрии, характеризующие элементарную ячейку, требуют, чтобы ее содержимое было организовано определенным образом, картина интенсивности, наблюдаемая при прецессионном фотографировании, характеризует эти элементы симметрии. Это утверждение будет обосновано позднее. [36]
Интенсивности I ( hkl) в дифракционной картине можно измерить либо по интенсивностям пятен почернения на рентгенограмме ( например, на рис. IV.1), либо при помощи ионизационной камеры или счетчика Гейгера так, как это показано на рис. 3.19. В современных методах измерений со счетчиком ориентации кристалла и счетчика, при которых наблюдаются рефлексы, устанавливаются при помощи системы дуг, контролируемой быстродействующей счетной машиной, которая рассчитывает требуемое расположение дуг на основе постоянных решетки и индексов hkl, а затем автоматическая система проводит измерения для большого числа рефлексов. [37]
Общая гформула ( 5а) непосредственно используется в методе порошка и при обработке интенсивности пятен нулевой слоевой линии рентгенограмм вращения. В остальных случаях метода вращения и его разновидностей определение углов Ф является затруднительным и предпочтительнее выразить 2& через углы ( л, v и т, легко определяемые для каждого отражения ( см. рис. 4, а также том I, стр. [38]
Хайс ( частично неопубликовано) определял продукты обмена пелептана и других аптикоагуляптов визуальным сравнением интенсивности пятен или их колориметриро-ванием после извлечения продуктов взаимодействия с реактивом Фучика и Коржистека. [39]
Следует иметь в виду, что все эти методы учета экстинкции предполагают точную оценку интенсивности пятен рентгенограмм. [40]
Количественное определение проводят визуальным способом, путем сравнения интенсивности окраски и размера пятен пробы с интенсивностью пятен стандартной хроматографической шкалы. [41]
При большом содержании элемента в зоне ( 50 мне), что оценивается по величине и интенсивности пятна, необходимо разбавить раствор для ко-лормметрирования ( после растворения золы зоны) в 3 - 4 раза водой. [42]
Определение содержаний р.з.э., меньших 1 - 3 мкг, производят путем визуального сравнения величины и интенсивности пятен анализируемой и стандартной хроматограмм, полученных в одной камере. [43]
Второй и наиболее трудоемкий этап исследования, приводящий к определению структуры молекулы, заключается в анализе интенсивности пятен. Серьезным препятствием на этом этапе является проблема знаков структурных амплитуд. Дело в том, что пятна возникают в результате интерференции рентгеновских лучей, рассеянных на разных атомах, точнее на их электронных оболочках. [44]
В 1918 г. Дебай впервые показал, что дифракция рентгеновских лучей вызывается электронным облаком атома, поэтому интенсивность пятен на рентгенограммах пропорциональна числу электронов дифрагирующих атомов. [45]
Страницы: 1 2 3 4