Спектральная интенсивность
Cтраница 1
Спектральная интенсивность определяется как площадь под кривой поглощения и приблизительно пропорциональна произведению высоты на ширину полосы поглощения на высоте полумаксимума кривой. Многие исследователи предпочитают интегрировать кривые с помощью электронных машин или механических приспособлений; для этой цели имеются выпускаемые промышленностью установки. Когда различные резонансные линии имеют одинаковую ширину, их интенсивности пропорциональны высотам пиков. Заметим, что интенсивность поглощения метальных групп складывается из интенсивностей трех компонентов. Однако в этом случае ширины линий обоих компонентов различаются друг от друга и поэтому для точных определений необходимо измерение площадей под спектральными кривыми. [1]
Спектральная интенсивность некоторых техногенных источников ЭМП может существенным образом отличаться от эволюпион-но сложившегося естественного электромагнитного фона, к которым привык человек и другие живые организмы биосферы. [2]
Спектральная интенсивность / х характеризует излучение в небольшом интервале длин волн вблизи длины волны А; интегральная интенсивность относится к полному излучению для всех длин волн. [3]
Преобразованные спектральные интенсивности могут принимать только 50 значений [ см. соотношение (6.16) ], поэтому эти интенсивности можно вычислить и хранить до использования в расчетах решающей поверхности, а не вычислять каждый раз для любого нового спектра. Таким путем достигается большая экономия машинного времени. [4]
Спектральная интенсивность линии определяется зависимостью коэффициента поглощения от частоты, так как функция Планка в пределах линии меняется мало. Зависимость kv определяется характером уширения линии. В неидеальной плазме уширение обусловлено межчастичными взаимодействиями и будет обсуждаться далее. [5]
Спектральная интенсивность дробового шума FRP постоянна в широком диапазоне частот. При достаточной толщине полупроводниковой пластины на частотах / 1000 гц дробовые шумы становятся выше токовых. [6]
Характерную спектральную интенсивность можно оценить лишь очень грубо. В оптическом диапазоне / 10 - 8 эрг-см 2, а в радиодиапазоне она может достигать, по-видимому, значений / ы 10 - 3 эрг-см-2. Максимальная интенсивность и здесь оказывается в инфракрасном диапазоне ( со 2 5 Ю сек 1), где, возможно, / Ы 1СГ2 эрг см-2. Приведенные значения могут служить лишь для оценок по порядку величин. [7]
Если спектральная интенсивность 1Х постоянна в полосе пропускания МИС, то плотность потока 1ВЫЖ будет тем. [8]
Поэтому спектральная интенсивность равновесного излучения в среде / Гл так же, как и в вакууме, будет обладать естественной поляризацией и сохранять постоянное по объему и по различным направлениям значение. Однако количественно ее величина будет отличаться от равновесного значения / 0 v для вакуума при той же частоте v и температуре Т, поскольку скорости распространения излучения в материальной среде и в вакууме не являются одинаковыми. В то же время величина / r v не должна зависеть от материала стенок оболочки и от характера границы раздела обоих объемов, а будет являться функцией частоты, температуры и природы самой среды, заполняющей второй объем. Все эти положения являются следствием второго начала термодинамики и доказываются аналогичным образом, как и в случае ва-куумированной равновесной системы. [9]
 |
Зависимость IK ( 0 от парциального давления СО2 при различных. [10] |
Расчеты спектральной интенсивности падающего излучения, на основании которых построены приведенные регрессионные зависимости, были проведены применительно к составу продуктов сгорания природного газа при значении парциального давления СО2 рсо. Это связано с тем обстоятельством, что значение коэффициента поглощения а является здесь столь высоким, что во всей рассматриваемой области значений рсо поглощательная способность слоя близка к единице. [11]
Измеряя спектральную интенсивность наблюдаемого нетеплового космич. [13]
Конечно, спектральная интенсивность таких процессов в общем случае намного меньше интенсивности основных переходов. Более того, она не постоянна для всех значений k, так как плотность состояний намного выше около центра и концов зоны Бриллюэна, по крайней мере для оптической ветви. Двухфононные ( а иногда и трехфононные) процессы особенно важны в случае ионных и ковалентных кристаллов, поэтому они обсуждаться здесь не будут. [14]
Фк - спектральная интенсивность падающего излучения; FA - спектральная чувствительность приемника; тя - спектральный коэффициент пропускания светофильтра; Ф2 - поток, прошедший через фильтр; Ф1 - поток, упавший на светофильтр. [15]
Страницы: 1 2 3 4