Спектральная интенсивность

Cтраница 4

При тормозном излучении электронов с ростом их энергии максимум спектральной интенсивности смещается в область частот, существенно превосходящих частоты, представленные в неравномерном ( напр. Так, электрон, вращающийся с частотой и, излучает преим. О ( синхротронный аффект), а электрон, совершающий малые колебания с частотой Q n обладающий релятивистской поступат. У ] с, излучает в направлении своего поступат. [46]

На рис. 16.4 - 16.6 приведены кривые зависимости спектральных интенсивностей полного излучения Wno) и краевого эффекта М кэ ( 0)) для разных толщин а пластины и разных значений лоренц-фактора 7 электрона. Для сравнения приведены также частотные спектры У7пер ( 0)) обычного переходного излучения. [47]

Синий шум ( косой шум) - шум, спектральная интенсивность которого возрастает к верхнему концу ( границе) спектра сигналов изображения. [48]

Синий шум ( косой шум) - шум, спектральная интенсивность которого возрастает к верхнему концу ( границе) спектра сигналов изображения. [49]

Синий шум ( косой шум) - шум, спектральная интенсивность которого возрастает к верхней границе спектра видеосигналов. [50]

Регистрирующий спектрофотометр модели 124 ( Hitachi, Япония. а - блок питания. б - спектрофотометр. в - регистрирующий линейный самописец. [51]

Прибор может работать также по однолучевой схеме при измерении спектральной интенсивности или энергии излучения каких-либо источников. [52]

В пирометрах сравнения ( рис. 2.13, а) отношение спектральных интенсивностей оценивается субъективно по цветовому ощущению, создаваемому смесью двух монохроматических пучков. [53]

В предыдущих параграфах было рассмотрено влияние температурного профиля слоя на спектральную интенсивность выходящего из него излучения. Естественно, возникает и обратная задача - восстановление температурного профиля по данным измерений спектральной интенсивности излучения. Меллора [73 ] были показаны возможности использования методов оптимизации для решения задач спектральной инверсии. Было исследовано фоновое влияние задней стенки и была показана возможность использования для спектральных измерений приборов со сравнительно низкой разрешающей способностью. Помимо решения задач, связанных с определением температурного поля в слое, подробно исследованы возможности использования рассматриваемых методов также для определения полей концентраций излучающих компонентов среды. [54]

Значения интегральных коэффициентов отражения Sft ( оптимизированных по Р различных МИС как функция резонансной длины волны Я0. / - Ru - В. 2 - Ru-С. 3. Ni - С. 4 - Ni - Be. [55]

А, - ширина линии; /, / ф - спектральные интенсивности линии и фона соответственно. [56]

Упрощенная схема спектрофотометра, скелетная схема которого приведена на 313. Электрические данные. /. t 10 50 ком каждое. [57]

Ширина щели автоматически сужается, если с изменением спектральной чувствительности фотоумножителя и спектральной интенсивности источника света происходит увеличение фототока. [58]

Страницы: 1 2 3 4