Cтраница 2
Оценим более детально спектральные интенсивности РПИ (10.20) и (10.21) в случае, когда рассеивающее тело имеет вид шара с радиусом г и обладает однородным распределением плотности внутри. [16]
Процесс измерения спектральной интенсивности сводится к следующему. Спектральный прибор улавливает часть мощности W и разлагает ее в спектр, определенный интервал которого, шириной ДЯ Я-Я, направляется на приемник. Мощность излучения, достигающая приемника, пропорциональна В ( Я) а ( Я) е ( Я) ДЯ, а ( Я) - аппаратная функция, е ( Я) - коэфф. [17]
Очевидно, что спектральная интенсивность релеевского рассеяния в пределах ширины линии вблизи резонанса практически совпадает со спектром падающего излучения. [18]
Для количественной оценки спектральных интенсивностей необходимо точное измерение толщины кристалла. Простым, хотя и не очень точным, методом является измерение площади поверхности кристалла, спектр которого измерен, с последующим растворением этого кристалла в известном объеме подходящего растворителя. Затем в спектре раствора измеряется оптическая плотность интенсивных полос и производится оценка массы, а отсюда и толщины кристалла. Это позволяет в лучшем случае дать только грубую оценку; метод неприменим для очень тонких образцов. Толщина кристалла может быть измерена также под микроскопом при наблюдении запаздывания, вызванного кристаллом, и сравнения его с разностью показателей преломления при данной длине волны. Гораздо более высокая точность может быть получена при усложнении эксперимента путем использования интерферометрии. [19]
Очень грубой оценкой спектральной интенсивности радиоизлучения ядра в нормальном состоянии будет величина порядка 1Ш ж; 1 ( Г8 эрг-см - 2 ( при частоте со 109 сек 1), но возможны отклонения от нее на два порядка ( а то и больше) в обе стороны. [20]
Второе слагаемое характеризует спектральную интенсивность тока, которая создается частью дро - - бового тока гш др. Ток дробового шума / ш др разветвляется на / ш ДР1, протекающий через сопротивление R0, и 1Ш Др2 протекающий через суммарное сопротивление Rw Rr0 Ra0 Rn, так как R0 и R10 по отношению к тому / ш др включены параллельно. [21]
![]() |
Колористическая диаграмма МКО ( а и положение на ней данных спектрофотометрических измерений цветности воды ( б. [22] |
Я) - функция спектральной интенсивности источника излучения; ф ( / С) - функция относительной спектральной интенсивности источника излучения; g ( h) - функция спектральной чувствительности приемника; k ( K) - функция относительной спектральной чувствительности приемника; т ( Л) - функция коэффициента спектрального пропускания света слоем вещества толщиной I; т - прозрачность вещества. [23]
Далее, линий с равной спектральной интенсивностью, для которых Siu ( K) Siu ( K), имеют несколько отличные ширины, так как допплеровская ширина пропорциональна частоте центра линии. [24]
Отдельный раздел посвящен проблеме измерения спектральных интенсивностей и данным, которые могут быть получены Б результате этих измерений. Особый интерес представляют исследования методом инфракрасной спектроскопии водородной связи, чему посвящен предпоследний раздел. И, наконец, кратко рассмотрены правила интерпретации спектров. [25]
Спектральная эффективность определяется с учетом спектральной интенсивности источника излучения, пропускания оптической системы и спектральной чувствительности ПЛЭ. [26]
На частотах, меньших WJR, спектральная интенсивность или плотность излучения определяется законом Рэ-лея - Джинса. Однако здесь есть особенности, связанные с тем, что на разных частотах излучают частицы с разными энергиями. [27]
![]() |
Изменение интенсивности излучения в излучающе-поглощающей среде на длине dl. [28] |
Из соотношения (2.207) следует, что спектральная интенсивность собственного излучения оптически толстого слоя газа ( av / Э1) приближается к излучению абсолютно черного тела. [29]
Где / aiz, Лис - спектральные интенсивности полного шумового тока и шумового тока, обусловленного шумами антенны, в цепи нагрузки. [30]