Относительная интенсивность - спектральная линия
Cтраница 2
Задача 1.21. Определить относительную интенсивность зеемановских спектральных линий при наблюдении вдоль магнитного поля и перпендикулярно ему. [16]
Задача 1.22. Определить относительную интенсивность штарковских спектральных линий при наблюдении вдоль электрического поля и перпендикулярно ему. Как и в предыдущей задаче, поляризация излучения определяется направлением наблюдения. Такие компоненты линии также называются а-компонентами. [17]
Таким образом, метод относительных интенсивностей спектральных линий дает возможность в условиях ЛТР измерить температуру плазмы. При учете приведенных выше замечаний погрешность измерения может быть сделана достаточно малой. [18]
 |
Принцип действия поляризационного фотометра. а - схема изменения амплитуд. б - схема уравнения интенсивностей. [19] |
Эта формула позволяет определить относительную интенсивность спектральных линий по отсчету угла а поворота анализатора в момент равенства яркости полей. [20]
 |
Оптическая схема инфракрасного спектрометра I - 1R - 10. [21] |
Микрофотометр МФ-2 предназначен для измерения относительной интенсивности спектральных линий в спектрах, снятых на фотографическую пластинку. [22]
 |
Оптическая схема инфракрасного спектрометра HR-10. [23] |
Микрофотометр МФ-2 предназначен для измерения относительной интенсивности спектральных линий в спектрах, снятых на фотографическую пластинку. [24]
Фотографический метод регистрации спектра и измерения относительной интенсивности спектральных линий является даже в настоящее время основным при качественном и количественном эмиссионном анализе. [25]
 |
К определению.| К определению относительных интенсивностейг двух линий по двум кривым. [26] |
Этот способ позволяет решать задачу измерения относительных интенсивностей спектральных линий, находящихся в различных областях спектральной чувствительности фотоэмульсий. Для этой цели необходимо знать кривую спектральной чувствительности данной фотоэмульсии. Под спектральной чувствительностью понимается, величина, обратная экспозиции Н монохроматического излучения, выраженной в эргах и приходящейся на 1 см2 поверхности эмульсии, которая необходима для получения плотности почернения, на единицу превышающей плотность вуали. EZ соответственно, которые вызывают почернение D над. [27]
Задачи количественного эмиссионного анализа включают измерение относительных интенсивностей спектральных линий обнаруженных элементов, что позволяет оценить их концентрацию, так как существует прямолинейная зависимость между интенсивностью спектральных линий определяемого элемента и содержанием его в исследуемой пробе. [28]
 |
Относительная интенсивность R дуговой и искровой линий кальция при разной температуре ( масштаб на оси ординат логарифмический. [29] |
При изменении температуры источника света сильно меняется относительная интенсивность спектральных линий, имеющих разные потенциалы возбуждения. На рис. 25 приведен один и тот же участок спектра железа, полученный с помощью источника света с разной температурой. [30]
Страницы: 1 2 3 4