Cтраница 4
В основе всех современных методов количественного анализа лежит измерение относительной интенсивности спектральных линий определяемого элемента и элемента сравнения, находящегося в той же пробе. [46]
В основе большинства современных методов количественного анализа лежит измерение относительной интенсивности спектральных линий определяемого элемента и элемента сравнения, находящегося в той же пробе. [47]
Преобразованные значения сигналов ( например, пропорциональные обсолютным или относительным интенсивностям спектральных линий) или рассчитанные по ним значения концентраций определяемых элементов выводятся на принтер. Очевидно, что в последнем случае в память компьютера должны быть предварительно введены параметры градуировки, устанавливающие связь между значением аналитического сигнала и концентрацией определяемого элемента. [48]
![]() |
Функциональная схема квантометра ДФС-51. [49] |
Преобразованные значения сигналов ( например, пропорциональные абсолютным или относительным интенсивностям спектральных линий) или рассчитанные по ним значения концентраций определяемых элементов выводятся на печать. Очевидно, что в последнем случае в память ЭВМ должны быть предварительно введены параметры градуировки, устанавливающие связь между значением аналитического сигнала и концентрацией определяемого элемента. Обычно эта связь устанавливается с помощью стандартных образцов состава. [50]
Уравнение (1.32) показывает, что чем меньше АЕ, тем меньше относительная интенсивность спектральной линии зависит от температуры, а следовательно, и от колебаний температуры. С увеличением АЕ требования к стабильности источника возбуждения возрастают. [51]
К числу наиболее распространенных относятся способы, основанные на измерении относительной интенсивности соответствующих спектральных линий, принадлежащих одному элементу. [52]
В работе был сделан расчет по формуле ( 1) изменения относительных интенсивностей спектральных линий в зависимости от СВЧ-мощно-сти, начиная с Р 0 вт, когда в ОС под действием СВЧ-поля остается одна группа электронов. [53]
В работе был сделан расчет по формуле ( 1) изменения относительных интенсивностей спектральных линий в зависимости от СВЧ-мощно-сти, начиная с Р10 вт, когда в ОС под действием СВЧ-поля остается одна группа электронов. [54]