Контактный выступ

Cтраница 4

На рис. 43 - 45 показан внешний вид деталей и конструкции щелочных элементов А-343 и А-373. Корпусом 4 элемента А-343 ( рис. 44) является стальной никелированный стакан с контактным выступом на дне. В полость стакана запрессована агломератная смесь 6, плотно прилегающая к стенке корпуса. В цилиндрической полости электрода размещают ластовую диафрагму 3, представляющую собой загущенный крахмалом щелочной электролит, и пас-тированный отрицательный цинковый электрод 2, который состоит из смеси цинкового порошка с загущенным электролитом. [46]

Это значительно повышает трудоемкость операций и снижает экономичность процесса в целом. При разработке новых конструктивно-технологических вариантов ИС иеоб-ходимо стремиться к рас-ширению области групповой обработки. Например, ИС с Контактными выступами и балочными выводами ( см. § 1.7) позволяют применять групповую обработку и на монтажно-сборочных операциях, сужая соответст-венно область трудоемкой индивидуальной об - 1.6. Групповая пластина-за - работки. [47]

Линейный контакт образуют токоведущие детали, касающиеся по линии. Фактически контактная поверхность представляет узкую прямоугольную полоску. В таких контактах создаются высокие удельные нажатия и по - sroMy легко обеспечить смятие окисленных контактных выступов и получить относительно низкое контактное сопротивление при сравнительно небольших нажатиях. Линейные контакты применяют в большинстве тяговых аппаратов. [48]

Присоединение таких бескорпусных приборов производится методом обращенного кристалла; кристалл опускается на поверхность подложки пленочной микросхемы так, чтобы каждый из контактных выступов располагался в середине соответствующей ему контактной площадки. Шариковые контакты сделаны из припоя, поэтому прогрев кристалла до расплавления припоя ( около 210 С) позволяет получить механическое и электрическое соединение бескорпусного прибора со структурой пленочной микросхемы. Метод шариковых ( столбиковых) контактов в принципе позволяет осуществить автоматизацию наиболее трудоемкой операции в процессе изготовления гибридно-пленочных микросхем. [49]

Гальванические или горячие покрытия деталей контактных зажимов металлом, стойким против коррозии, применяют с целью уменьшения окисления контактных поверхностей. Применение металлов с пониженной твердостью для защитных покрытий контактных поверхностей способствует уменьшению контактного сопротивления, так как количество точек соприкосновения деталей увеличивается. Такое уменьшение сопротивления имеет место, например, при горячем лужении медных деталей зажимов, несмотря на то, что удельное сопротивление контактных выступов при этом возрастает. Окисление уменьшается также при очень плотном сжатии контактов и при заполнении пор в местах соединения вазелином, препятствующим проникновению влаги и воздуха к месту контакта. [50]

Для создания коммутации напыляют пленку хрома толщиной 0 1 мкм, алюминия - 1 мкм, хрома - 0 1 мкм и меди - порядка 5 мкм. Хром обеспечивает хорошую адгезию проводников к подложке а второй его слой предотвращает коррозию алюминия при непосредственном контакте с верхним слоем меди, предназначенным для получения контактных выступов. Минимальная ширина линий проводников составляет 50 мкм. Верхний слой коммутации ( алюминий с подслоем хрома) также наносится через маски. Для защиты меди от окисления наносится тонкий слой ванадия и затем производится электрохимическое ссажде-ние олова. Иногда на подложке изготовляют контактные столбики методом электрохимического осаждения золота на меди. [51]

На рис. 1.9 показано устройство стаканчикового цилиндрического элемента 373 с щелочным электролитом, имеющего те же габариты, что и элемент Марс. Активная масса положительного электрода 6 запрессована в периферийной части элемента и плотно прилегает к стенке корпуса 4, который представляет собой стальной никелированный стакан с контактным выступом в верхней части. Отрицательный электрод 2, изготовленный из смеси цинкового порошка с загущенным электролитом, расположен в центральной части элемента. Между электродами расположена диафрагма 3 - загущенный крахмалом щелочной электролит. [52]

Элемент батареи галетной конструкции с солевым электролитом. [53]

На рис. 1.9 показано устройство стаканчикового цилиндрического элемента 373 с щелочным электролитом, имеющего те же габариты, что и элемент Марс. Активная масса положительного электрода 6 запрессована в периферийной части элемента и плотно прилегает к стенке корпуса 4, который представляет собой стальной никелированный стакан с контактным выступом в верхней части. Отрицательный электрод 2, изготовленный из смеси цинкового порошка с загущенным электролитом, расположен в центральной части элемента. Между электродами расположена диафрагма 5 - загущенный крахмалом щелочной электролит. [54]

Кристалл / ( рис. 2.29, а) устанавливается выступами 2 на контактные площадки 3 лицевой стороной к подложке 4 ( монтаж методом перевернутого кристалла), после чего производится пайка или термокомпрессия сразу всех выводов. Одновременно происходит и механическое закрепление кристалла. Такой способ лучше поддается автоматизации и уменьшает площадь, занимаемую одним компонентом на подложке. Однако возникают две проблемы: обеспечение точного совмещения перевернутого кристалла с подложкой ( контактные выступы кристалла и контактные площадки подложки не видны) и надежного контакта со всеми выступами, высота которых не может быть абсолютно одинаковой. Поэтому шариковые выводы целесообразно применять в кристаллах диодов и транзисторов, но не полупроводниковых микросхем. [55]

Электрофизические свойства фоторезистов. [56]

Оценка надежности многослойных микросхем показала, что наибольшая вероятность растрескивания проводящих дорожек связана с их напылением на прямоугольную ступеньку изолирующей пленки. Это явление объясняется изменением роста центров кристаллизации у ступеньки, что приводит к росту пленки на вершине и дне ступеньки и образованию зазора между ними. Кроме того, известна другая возможность устранения разрывов верхних проводников. По этому методу соединения создаются электролитическим осаждением металла проводника в отверстия, полученные в диэлектрике, до тех пор, пока толщина контактных выступов не станет равной толшине диэлектрика. [57]

Вокруг основного узла схватывания возникли отдельные небольшие участки схватывания, удлиненные в направлении ультразвуковых колебаний. С увеличением времени пропускания ультразвука более 0 73 сек площадь зашлифованного участка почти не изменяется ( рис. 9, г, д), но площадь узлов схватывания начинает увеличиваться более интенсивно. При пропускании ультразвука свыше 1 06 сек происходит разрушение сварного соединения с вырывом точки по всему контуру. Образование полированного пятна на свариваемых поверхностях указывает на то, что оно возникло вследствие трения под действием высокочастотных колебаний соприкасающихся поверхностей непосредственно под контактным выступом. [58]

Страницы: 1 2 3 4