Вторичный ион

Cтраница 3

Тем самым облегчается идентификация масс вторичных ионов, но утрачивается информация о внутренней энергии мета-стабильных ионов. [31]

Этот метод отличается от масс-спектрометрии вторичных ионов только тем, что облучающий поток состоит из нейтральных атомов, а не из ионов. Атомная пушка по существу та же, что и для получения пучка ионов, но ее геометрия такова, что ионы имеют возможность реагировать с нейтральными атомами или вторичными электронами, так что они теряют свой заряд и сохраняют момент количества движения. [32]

Исследования температурной зависимости интенсивностей пучков вторичных ионов позволили условно разделить весь спектр испускаемых ионов на две группы. Интенсивность вторичных ионов типа GamAs, относящихся к I группе, в пределах ошибки измерения слабо зависела от температуры в мишени в интервале 20 - 700 С. [33]

Можно думать, что относительные количества вторичных ионов, образующихся из комплекса, будут близки к относительным интенсивностям первичных ионов в зарегистрированном при низкой энергии электронов масс-спектре молекул, имеющих такое же строение. [34]

На рис. 7.6 приведен типичный масс-спектр вторичных ионов, эмиттирующих из льда. [35]

В настоящее время с помощью масс-спектров вторичных ионов, полученных при бомбардировке ускоренными атомами, исследовано большое число полярных, труднолетучих и термически лабильных соединений различных типов: биоорганических, металлоорганических и других. [36]

При малых кинетических энергиях в образование вторичного иона по этому каналу вносит значительный вклад ионно-молекулярная реакция с переходом гидридного иона. [37]

Относительное сечание соответствует суммарной эффективности образования вторичных ионов, поставленных в косых скобках. [38]

Этот эффект обусловлен неклассической делокализацией заряда очень нестабильного вторичного иона, и он не наблюдается для более стабильных третичных ионов. [39]

Первые исследования были скорее связаны со вторичными ионами, чем с нейтральными частицами вследствие трудностей получения достаточно сильных токов ионизированных нейтральных частиц. Эта проблема сейчас решена благодаря созданию эффективных источников и чувствительных детекторов. Существуют различные трудности с вакуумом для источников с распылением: очень важно, чтобы мишень была полностью отделена от источника первичных ионов так, чтобы интенсивный ионный луч фокусировался на мишени без избыточного давления неионизированного газа. Остаточные газы будут, конечно, ионизироваться под действием потока электронов вместе с нейтральными выбитыми частицами. [40]

Под шпуром подразумевают область, которая содержит первичные и вторичные ионы и возбужденные молекулы. [41]

Интенсивность тока распыленных ионов Cr, Fe и № при бомбардировке нержавеющей стали кислородом и аргоном. [42]

При бомбардировке ионами аргона наблюдается потеря интенсивности вторичных ионов во времени. Можно также наблюдать конкуренцию различных элементов при взаимодействии с реактивными газами из окружающей среды, причем наиболее активным оказывается хром. При ионной бомбардировке стали наблюдается особое изменение интенсивности хрома ( ср. Можно предположить также, что окиси железа и никеля присутствуют на поверхности в незначительных количествах. [43]

Рассмотрим более детально взаимосвязь между относительным выходом характерных вторичных ионов и структурой молекулы на примере ионов типа СХз, где С - атом углерода, а X - атомы фтора, хлора или водорода. Из карбоцепных линейных полимерных молекул ионы такого типа могут образоваться либо за счет ионно-молекулярных реакций, либо за счет перегруппи-ровочных процессов. [44]

Приведена суммарная константа скорости, включающая образование вторичных ионов CHsS 1, образующихся в процессах с переходом тяжелых частиц. [45]

Страницы: 1 2 3 4