Дальнейшая ионизация

Cтраница 3

Вольт-амперная характеристика р-п-перехода при обратном смещении. [31]

Если ширина области объемного заряда р-я-перехода d l ( длины свободного пробега), то неосновные носители заряда в электрическом поле обратносмещенного р-я-перехода могут набрать достаточную скорость для ионизации решетки с образованием пары электрон - дырка. Образовавшиеся носители заряда сами принимают участие в дальнейшей ионизации. Процесс нарастания тока носит лавинный характер. [32]

Проникающие внутрь трубки частицы ионизируют атомы газа. Возникающие электроны, ускоренные электрическим полем, производят дальнейшую ионизацию, которая приводит к пробою. Возникающий импульс тока не зависит от энергии частицы. Независимо от того, сколько пар ионов создано частицей, на выходе будет стандартный импульс, значение которого обусловлено типом счетчика и электронным устройством. [33]

Проникающие внутрь трубки быстрые 0-частицы ионизуют атомы газа на своем пути. Возникающие свободные электроны ускоряясь электрическим полем между нитью и стенками производят дальнейшую ионизацию, приводящую к пробою газа - происходит электрический разряд. Счетчик включается в специальную схему так, чтобы возникший в нем ток быстро обрывался Посче гашения разряда происходит рекомбинация ионов и счетчик вновь готов к действию. Прошедший импульс тока после соответствующего усиления регистрируется специальной пересчетной схемой или электромеханическим счетчиком. Этот прибор позволяет отсчитывать до нескольких тысяч проходящих через него частиц в секунду. [34]

Проникающие внутрь трубки быстрые 5-частицы ионизуют атомы газа на своем пути. Возникающие свободные электроны, ускоряясь электрическим полем между нитью и стенками, производят дальнейшую ионизацию, приводящую к пробою газа - происходит электрический разряд. Счетчик включается в специальную схему так, чтобы возникший в нем ток быстро обрывался. После гашения разряда происходит рекомбинация ионов и счетчик вновь готов к действию. Прошедший импульс тока после соответствующего усиления регистрируется специальной пересчетной схемой или электромеханическим счетчиком. Этот прибор позволяет отсчитывать до нескольких тысяч проходящих через него частиц в секунду. [35]

При движении а-частицы в воздухе и в другой среде она расходует энергию, которой обладает при вылете из ядра, на ионизацию и возбуждение встречных атомов. По мере потери энергии скорость ее движения уменьшается и она теряет возможность производить дальнейшую ионизацию. [36]

Зависимость ионизационного тока ( величины импульса тока от напряжения на приборе. [37]

Поглощение рентгеновских лучей сопровождается ионизацией атомов вещества. Фотоэлектроны, возникшие в результате действия квантов излучения, обладают энергиями, достаточными для дальнейшей ионизации атомов при столкновениях с ними. Так, например, каждый квант излучения Си / Са с длиной волны 1 54 А передает фотоэлектрону энергию, при помощи которой он может ионизировать более 300 атомов аргона. Таким образом, при пропускании рентгеновских лучей через газ создается большое число свободных электронов и положительных ионов. В стационарном состоянии ( при постоянной интенсивности рентгеновских лучей) количество пар электрон - положительный ион, создаваемых в единицу времени, равно числу актов рекомбинации. [38]

И наконец, на что идет энергия, переданная веществу. За частицей остается след ионов, а электроны, обладающие достаточными энергиями, производят дальнейшую ионизацию атомов вещества. Таким образом, при данных энергетических потерях образуется некоторое среднее число электрон-ионных пар, почти не зависящее от вида вещества. [39]

Избыток неиспользованной энергии кванта расходуется на увеличение кинетической энергии спускаемого молекулой электрона. В ряде случаев освобожденный электрон получает кинетическую энергию, практически равную энергии кванта, и он может производить дальнейшую ионизацию. [40]

Относительная электрическая прочность газообразных углеводородов ( насыщенных и ненасыщенных в зависимости от числа связей С - Н. [41]

Между электрической прочностью и молекулярной структурой электроотрицательных газов существует связь, отличающаяся от аналогичной зависимости для газообразных углеводородов; это обусловлено способностью молекул электроотрицательных газов присоединять электроны. Когда электроны прилипают к молекулам газа, образуя отрицательные ионы, они теряют свою энергию и становятся неспособными к дальнейшей ионизации. По аналогии с первым таун-сендовским коэффициентом а может быть введен коэффициент присоединения г), его можно охарактеризовать средним числом присоединений на единицу длины пробега электрона в направлении электрического поля. [42]

Положительные ионы под действием электрического поля движутся к катоду, по пути накапливают кинетическую энергию и, ударяясь о катод, вырывают из него электроны. Часть этих электронов идет на нейтрализацию положительных ионов, другая часть подхватывается полем и, двигаясь к аноду, производит дальнейшую ионизацию в объеме. [43]

Кислотная ионизация поверхностных групп SiOH также может являться причиной появления поверхностного заряда. Заряд растет с увеличением концентрации; так как при этом происходит сжатие ионной оболочки, окружающей поверхностные заряды, то и увеличивается вероятность дальнейшей ионизации. [44]

Следовательно, разница между вычисленным и наблюдаемым значениями оптической плотности ( di) при одинаковых значениях рН происходит из-за присутствия нейтральной молекулы. Эти разницы, будучи прибавленными к приближенному значению плотности монокатиона при 300 MMc ( di), дают значения оптической плотности, которые соответствуют ионизации свободного основания без учета влияния дальнейшей ионизации монокатиона. [45]

Страницы: 1 2 3 4 5