Полевая ионизация
Cтраница 1
Полевая ионизация осуществляется в сильном элек-трич. [2]
Полевая ионизация ( автоионизация) возникает вблизи поверхности металлического острия-эмиттера, имеющего на конце радиус закругления - - 10 - 7 м, при наложении электрического потенциала порядка нескольких киловольт между острием ( анодом) и вторым электродом ( катодом) значительно большего размера. [3]
 |
Схема источника полевой ионизации. [4] |
Поскольку полевая ионизация происходит в мягких условиях и, следовательно, молекулам передается минимальное количество энергии, вероятность фрагментации молекулярных ионов оказывается относительно невысокой. Как правило, интенсивные молекулярные пики в масс-спектрах полевой ионизации наблюдаются для таких соединений, в масс-спектрах электронного удара которых сигналы молекулярных ионов либо слабы, либо не проявляются вовсе. Этот метод представляет особый интерес для количественного анализа сложных смесей, поскольку в масс-спектрах полевой ионизации число пиков осколочных ионов обычно невелико, и интенсивность их мала по сравнению с интенсивностью молекулярных пиков; кроме того, для масс-спектров полевой ионизации характерна очень хорошая воспроизводимость. [5]
Вариантом полевой ионизации является способ так называемой полевой десорбции, при котором анализируемое вещество не испаряется вблизи эмиттера, а наносится непосредственно на него. Это исключает стадию нагрева вещества ( для испарения) и пазволиет. [6]
 |
Схема комбинированного источника ионов ( ЭУ, ПИ, ПД. [7] |
Спектр полевой ионизации представлен двумя типами ионов: молекулярным и осколочными с массами 89 и 45, спектр полевой десорбции - одним интенсивным пиком, отвечающим ионам-ассоциатам ( М 1); совокупность этих данных позволяет охарактеризовать состав и структуру исследуемой молекулы. [8]
При полевой ионизации осколочные ионы образуются в результате диссоциации в сильном электрическом поле и взаимодействия с поверхностью эмиттера. Доля ионов, образующихся при реакции на поверхности, может быть уменьшена путем прогрева эмиттера; при этом значительно возрастает распространенность осколочных ионов. [9]
Источник полевой ионизации также обеспечивает получение масс-спектра с малым числом осколочных ионов и относительно интенсивным пиком молекулярных ионов. При этом параметры газового потока и требования к вакууму остаются теми же, что и при ионизации электронным ударом. [10]
В методе полевой ионизации используют сильные электрические поля ( напряженностью порядка 108 В / см), в которых ионизация атомов или молекул осуществляется путем отрыва от них электронов. Здесь удаление электронов происходит по механизму квантово-механического туннелирования; ионизация является следствием деформации потенциальных барьеров под воздействием сильного электрического поля. [11]
Специфичность масс-спектров полевой ионизации позволяет идентифицировать положение двойной связи в молекуле даже при отсутствии эталонов. [12]
Схематически устройство источника полевой ионизации представлено на рис. XI.24. В качестве анода служит тонкая проволока ( так называемый эмиттер), на поверхности которой при помощи специальной техники сформирован плотный слой очень острых усов, ориентированных в радиальном направлении. В непосредственной близости от остриев усов создается мощное электрическое поле требуемой напряженности. [13]
Молекулярные ионы в масс-спектрах полевой ионизации наблюдаются для подавляющего большинства соединений, исключение составляют CF4, эфиры полиатомных спиртов и длинноцепочечных карбоновых кислот, а также некоторые другие соединения. [14]
Страницы: 1 2 3 4