Cтраница 1
Глубина залегания дефекта в толще пленки является важным фактором при прогнозировании ее работоспособности. Проведенными исследованиями установлено, что дефекты одинакового геометрического размера и типа, находясь на различной глубине, по-разному влияют на прочность пленочного изделия. Наиболее опасны поверхностные дефекты, менее опасны дефекты, лежащие в толще пленки. Предварительные теоретические расчеты показали, что при формировании изображения дефекта образуется изображение самого дефекта и его тени на технологической справке. При неизменном угле падения излучения открывается возможность определения глубины залегания дефекта относительно технологической оправки при любой толщине пленки. Обозначим расстояние между центрами изображений дефекта и его тени через h, а глубину залегания дефекта через А ( см. рис. 2.32, стр. [1]
Глубина залегания дефектов считается от номинального размера. [2]
Глубина залегания дефекта определяется по тому, над какой из точек группы расположены точки, указывающие на наличие эхосигнала. [3]
Глубина залегания дефектов считается от номинального размера. [4]
Глубина залегания дефектов должна проверяться надпиловкой или другим способом в одном - трех местах. [5]
![]() |
Электромагнит стереобетатрона с двумя ускорительными камерами, с энергией излучения 10 Мэв.| Переносный защитный контейнер для радиоактивного источника малой активности. [6] |
Глубина залегания дефектов при просвечивании определяется в этом случае по извеатньим углам облучения, когда исследуемый объект оказывается в точке пересечения пучков. [7]
Глубина залегания дефектов должна проверяться надпиловкой или другим способом в одном-трех местах. [8]
Глубину залегания дефекта указывают в миллиметрах или в процентах от толщины основного металла. [9]
![]() |
Предельно допустимые значения измеряемых характеристик и число дефектов при ультразвуковом контроле сварных соединений изделий, подведомственных Госгортехнадзору СССР. [10] |
Глубину залегания дефекта при контроле однажды отраженным лучом определяют как сумму толщины стенки и расстояния от внутренней поверхности соединения до дефекта. [11]
Глубину залегания дефекта в изделии определяют методом двойного просвечивания со смещением источника излучения и применением свинцовых меток. [12]
Глубину залегания дефектов на поверхности труб контролируют надпиловкой или зачисткой наждачным камнем с последующим измерением глубины зачистки в одном или нескольких местах. [13]
Глубину залегания дефектов считают от фактического размера. [14]
![]() |
Схема просвечивания для определения глубины залегания дефекта с перемещением источника излучения.| Схема просвечивания при нейтронной радиографии. [15] |