Глубина - залегание - дефект
Cтраница 3
С увеличением глубины залегания дефекта г роль второй компоненты в области малых р возрастает. [31]
По выявлению глубины залегания дефекта в контролируемой детали существуют ограничения. [32]
Для измерения глубины залегания дефектов или толщины изделия сигнал глубиномера ручкой глубиномер подводится к переднему ( левому) фронту сигнала, соответствующего отражению ультразвуковой энергии от дефекта ли дна изделия. [33]
При уменьшении глубины залегания дефекта чувствительность возрастает лишь до определенного предела. Ограничение в этом случае определяется отношением длины упругой волны и поперечным размером дефекта. Для получения заметного отражения нужно, чтобы размеры дефекта были соизмеримы с длиной волны. Если эти размеры меньше половины длины волны, то УЗК огибают дефект, почти не претерпевая отражения. [34]
С увеличением глубины залегания дефекта чувствительность падает. [36]
С увеличением глубины залегания дефектов уменьшается скорость скопления магнитного порошка, что затрудняет выявление дефектов и определение их характера. [37]
С увеличением глубины залегания дефекта Я зону 2L увеличивают ( если этому не препятствует форма изделия) по закону L Н tg 0, где Э л; 30, как отмечено ранее. Таким образом, совместная обработка сигналов дает возможность достигать большого значения линейной L или угловой 6 апертуры. По этому признаку рассматриваемый способ голографии называют методом синтезированной апертуры. [38]
 |
СТК преобразователя / с ОК 2. [39] |
С увеличением глубины залегания дефекта чувствительность падает. [40]
Если необходимо определить глубину залегания дефекта, то кроме основного приемника излучения используется один из дополнительных ( Д6 - Д8), в зависимости от направления движения изделия. [41]
 |
Призматический щуп для возбуждения продольных и поперечных волн в исследуемом теле. [42] |
Прибор предназначен для определения глубины залегания дефектов в различных изделиях. Генератор возбуждает в излучателе ( изготовленном из титаната бария ВаТЮ3) короткие импульсы высокочастотных колебаний. [43]
Для более точного определения глубины залегания дефекта в контролируемом шве большой толщины применяют метод просвечивания с перемещением рентгеновской трубки. В этом случае необходимо сделать два снимка, которые при расшифровке накладывают один на другой с точной фиксацией метки. [44]
Недостатки: нельзя определить глубину залегания дефектов, контролируемое изделие должно быть доступно с двух сторон. [45]
Страницы: 1 2 3 4