Cтраница 2
Глубину залегания дефекта находят, просвечивая изделия со смещением излучения. [16]
Глубину залегания дефекта определяют прямым преобразователем на макси. С помощью глубиномера УЗ-дефектоскопа находят расстояние до ближайшей поверхности дефекта, ориентированной перпендикулярной к лучу. [17]
![]() |
Схема просвечивания для определения глубины залегания дефекта с перемещением источника излучения. [18] |
Глубину залегания дефекта находят, просвечивая изделия со смещением источника излучения. [19]
Глубину залегания дефектов считают от фактического размера. [20]
![]() |
Схема сканирования при контроле способом корневой тандем. [21] |
Глубину залегания дефекта определяют, отключая от дефектоскопа заднюю призму преобразователя и переключая дефектоскоп на работу в совмещенном режиме. [22]
![]() |
Предельно допустимые значения измеряемых характеристик и число дефектов при ультразвуковом контроле сварных соединений изделий, подведомственных Госгортехнадзору СССР. [23] |
Глубину залегания дефекта при контроле однажды отраженным лучом определяют как сумму толщины стенки и расстояния от внутренней поверхности соединения до дефекта. [24]
![]() |
Схема просвечивания для определения глубины залегания дефекта с перемещением источника излучения.| Схема просвечивания при нейтронной радиографии. [25] |
Глубину залегания дефекта находят, просвечивая изделия со смещением излучения. [26]
Глубину залегания дефекта при контроле искателей любого типа ( прямым, призматическим и др.) определяют в порядке, указанном в инструкции по эксплуатации дефектоскопа. [27]
Влияние глубины залегания дефекта / на оптимальные параметры ТК проиллюстрировано рис. 3.21 на примере ТК углепластика толщиной 5 мм. [28]
Контроль глубины залегания дефектов поверхности проводят по методике завода-изготовителя. [29]
![]() |
Изображение точечного дефекта, находящегося на глубине 20 ( У, 1 ( 2 и 1 5 см ( 3. [30] |