Границы - двойник
Cтраница 2
К линейным и поверхностным дефектам относятся дислокации, границы мозаики, границы двойников и др. Они представляют структуры, возникающие из-за термических и механич. Она зависит также от формы изотермы. Минимальная плотность дислокаций получена на плоской изотерме. [16]
 |
Схема деформаций кристалла при скольжении ( а ] и двойииковаики ( б. ПС-плоскость скольжения. ПД - - плоскость двойнккования. [17] |
Имеются также двухмерные дефекты решетки: границы зерен, дефекты упаковки, границы двойников. Двойникованне ( рис. 2.31 6 ] весьма приближенно можно схематично представить как простое скольжение одной плоскости атомов по другой, причем смещение каждой плоскости пропорционально ее расстоянию от плоскости дврйниковання. Так как несколько соседних плоскостей атомов смещаются одна относительно другой на расстояния, равные целому числу межатомных расстояний в решетке, то область, в которой происходит движение, не сохраняет своей симметрии, обусловленной собственными операциями симметрии. Следовательно, кристаллические двойники - это такие кристаллы, две части которых могут быть переведены одна в другую с помощью элементов симметрии, не присущих данной кристаллической структуре. [18]
 |
Схема деформации кристалла при скольжении ( а и двойниковании ( б. ПС - плоскость скольжения. ПД - плоскость двойникования. [19] |
Имеются также двухмерные дефекты решетки: границы зерен, дефекты упаковки, границы двойников. Двойникование ( рис. 2.52, б) весьма приближенно можно схематично представить как простое скольжение одной плоскости атомов по другой, причем смещение каждой плоскости пропорционально ее расстоянию от плоскости двойникования. Так как несколько соседних плоскостей атомов смещаются одна относительно другой на расстояния, равные целому числу межатомных расстояний в решетке, то область, в которой происходит движение, не сохраняет своей симметрии, обусловленной собственными операциями симметрии. Следовательно, кристаллические двойники - это такие кристаллы, две части которых могут быть переведены одна в другую с помощью элементов симметрии, не присущих данной кристаллической структуре. [20]
 |
Схемы строения большеугловых ( а и малоугловых ( б границ. [21] |
Наиболее важными поверхностными дефектами являются больше-угловые и малоугловые границы, дефекты упаковки, границы двойников. [22]
К поверхностным дефектам относятся: границы зерен в монокристаллах, границы мозаики, границы двойников, поверхности раздела между твердыми фазами и свободные ( внешние) поверхности кристаллов. [23]
 |
Смешанная дислокация. [24] |
К поверхностным дефектам относятся границы между зернами и субзернами, дефекты упаковки, границы двойников и доменов, поверхность кристалла. [25]
 |
Микроструктура технически чистого железа после пластической деформации, X 100.| Пластическая деформация путем двой-никования. [26] |
На рис. 1.4, б показана микроструктура нержавеющей хромоникелевой стали, на которой хорошо видны прямые темные границы двойников - плоскости двойникования. [27]
Границы в кристаллах: межфазные, высокоугловые границы зерен, средне - и малоугловые границы субзерен, границы двойников, границы областей упорядочения. [28]
 |
Макродефекты поверхностей граней кристаллов алмаза. [29] |
Предпочтительность применения рентгеновской топографии определяется слабым поглощением излучения углеродом, высоким разрешением метода, позволяющим фиксировать дефекты упаковки, блочность, единичные дислокации, вхождение примесей, границы двойников и др. Использовалось Мо Ка - и Си Ка - излучение, выбранные отражения ( 404), ( 044), ( 404), ( 333), ( 440), ( 511) обеспечили получение картины сечений ( 100), ( 110) и ( 111) соответственно с минимальными искажениями. [30]
Страницы: 1 2 3 4