Денситометрия

Cтраница 1

Денситометрия применяется при хроматографирова-нии окрашенных растворов. [1]

Денситометрия занимается измерением поглощения и рассеяния света хро-матографическими слоями, подвергшимися проявлению или иной обработке. [2]

Зависимость между измеренным. х /. 2 и заданным f / i / Sa. [3]

Денситометрия точечным зон дом при многократных парад дельных прохождениях хромат о графического пятна в одном направлении. Конечные размеры светового зонда приводят к его неравномерному заполнению. [4]

Денситометрия не самой пластины, а контактных отпечатков с нее на фотографическую или рентгеновскую пленку. [5]

Нательной денситометрии определены непосредственно на хромато-грамме микрограммовые количества Аи, Pt, Pd с коэффициентом вариации 2 9; 19 5; 10 2 % соответственно. [6]

В денситометрии желательно использовать спектрометр с двумя длинами волн. В нем два луча света с различными длинами волн, одна из которых соответствует пику поглощения, а другая слегка смещена относительно этого пика, попеременно освещают пятно. При соответствующей электронной схеме фоновая оптическая плотность при этом уменьшается без снижения чувствительности прибора. Салгаников и др. [237], основываясь на работе Чанса [238, 239], описали предназначенный для хроматографии на бумаге спектрофотометр с двумя длинами волн. Этот прибор назван так, чтобы его можно было отличить от обычных двухлучевых приборов, в которых луч расщепляется так, что одна часть проходит через пятно, а другая - через холостой участок пластинки, адсорбционные характеристики и характеристики рассеивания которого могут быть иными. [7]

При денситометрии пластинок геля толщиной 6 мм могут возникнуть затруднения, для устранения которых приходится вносить изменения в устройство денситометра. [8]

Методом денситометрии измеряется суммарная функция площади пятна и его интенсивности. Это означает, что начальная площадь нанесенного пятна больше не является таким критическим параметром, как в двух предыдущих методах, хотя следует все-таки заботиться о том, чтобы площади пятен были одинаковыми. Факторы, влияющие на площадь окончательного пятна, влияют и на его интенсивность, но противоположным образом. Голдман и Гудол / 28 / рассмотрели теоретические основы денситометрии, которая базируется на теории Кубелки - Мунка, описывающей взаимодействие света с беспорядочно распределенным поглощающим веществом, и пришли к выводу, что проводить измерения предпочтительнее в проходящем свете, чем в отраженном. [9]

При сканирующей денситометрии точечным световым зондом необходимо выбрать оптимальный его размер. Показано [14], что размер зонда должен составлять 0 1 размера хроматографи-ческого пятна. [10]

Зависимость площади пика от толщины слоя сорбента и метода измерения. [11]

Ошибки при денситометрии могут возникнуть также в процессе самой хроматографии в тонких слоях, например при измерении объемов опытного вещества при нанесении его на пластинку. Точность определения зависит и от толщины слоя адсорбента на пластинке, влажности слоя, присутствия посторонних веществ, характера растворителей и ряда других факторов. [12]

Спектрофотометр для хроматограмм. [13]

Как в денситометрии хроматограмм в тонком слое, степень отражения от пятен на хроматограмме определяется относительно отражения от адсорбента на пластинке. [14]

Флуориметрия и двухлучевая денситометрия обеспечивают независимость отношения сигнала к шуму при сканировании и стабильный нулевой сигнал. В этих методах при работе с низкими концентрациями решающим фактором, влияющим на предел определения, являются электрические помехи, зависящие от особенностей детекторов и не зависящие от уровня освещенности. Статистически амплитуды помех имеют нормальное гауссовское распределение, корень квадратный из которого пропорционален корню квадратному из ширины полосы частот электрических помех, возрастающей с увеличением скорости сканирования и уменьшением диаметра или ширины апертуры. [15]

Страницы: 1 2 3 4