Подповерхностный дефект
Cтраница 1
Подповерхностные дефекты легко выявляются также и при намагничивании пульсирующим полем однополупериод-ного выпрямленного тока. [1]
Подповерхностные дефекты вызывают менее резко очерченные рисунки, так как сцепление порошка с поверхностью детали ослаблено. [2]
Подповерхностные дефекты на глубине примерно до 100 мкм могут быть обнаружены практически при такой же высокой чувствительности, что и поверхностные дефекты. При большем расстоянии от поверхности до дефекта ( 2 - 3 мм) могут быть обнаружены более грубые дефекты, чем при выявлении поверхностных нарушений сплошности. [3]
 |
Валик магнитного порошка над трещиной.| Валик магнитного порошка над шлифовочными трещинами.| Валик магнитного порошка над законом. [4] |
Подповерхностные дефекты дают менее четкое отложение валика порошка и, как правило, могут быть обнаружены ( при глубине залегания более 200 - 300 мкм) только способом приложенного поля. [5]
При подповерхностных дефектах для контроля применяют также и головные волны. [6]
На глубокозале-гающих подповерхностных дефектах ( в пределах чувствительности метода) осаждения имеют вид размытых полосок с нерезкими, нечеткими границами. [7]
 |
Контроль аустенитного шва с трансформацией волн. [8] |
Ею выявляют подповерхностные дефекты. Поперечная волна на донной поверхности также частично трансформируется в головную, бегущую вдоль донной поверхности. Ею выявляют дефекты вблизи этой поверхности. [9]
Для выявления подповерхностных дефектов применяют головную волну. В каждой точке поверхности ею порождается поперечная волна, уходящая под углом, равным третьему критическому. В связи с этим амплитуда головной волны быстро убывает с расстоянием. [10]
Для выявления подповерхностных дефектов применяют головные ( продольные подповерхностные) волны, возникающие при наклонном падении УЗК на поверхность изделия под углом, равным первому критическому. [11]
 |
Подповерхностный дефект в материале трубки высокого давления, выявленный. [12] |
Для обнаружения подповерхностных дефектов способом взвеси необходимо выполнить следующие работы. [13]
Для выявления подповерхностных дефектов применяют головные ( продольные подповерхностные) волны, возникающие при наклонном падении УЗК на поверхность изделия под углом, равным первому критическому. [14]
Для выявления подповерхностных дефектов применяют зродольные подповерхностные волны, возникающие при наклонном падении ультразвука на поверхность изделия под углом, равным первому критическому. Эти волны нечувствительны к неровностям и дефектам на поверхности изделия i достигают максимума чувствительности на глубине 5 - 10 мм от поверхности. [15]
Страницы: 1 2 3 4 5