Cтраница 3
Неравномерное образование геля проявляется и в виде подповерхностных дефектов, которые наиболее легко обнаруживаются при осмотре мембран на световом столе. В большинстве случаев такие дефекты являются только косметическими, однако иногда они могут быть опасными и инициировать возникновение более серьезных дефектов, которые проявляются, например, при свивании рулонной стойки патронного фильтра. Наличие таких подповерхностных дефектов обычно указывает на недостаточную фильтрацию отливочного раствора. [31]
В ряде случаев наиболее опасными являются так называемые подповерхностные дефекты, которые отделены от поверхности тонкой пленкой материала. Сигналы входных 7 и 8 и выходных 9 и JO детекторов поступают в логометрические приборы 15 и 16, измеряющие затухание в контролируемом изделии и эталоне. С осью логометров связаны движки потенциометров, так что в, схему сравнения 17 поступают постоянные напряжения. [32]
На рис. 7.7 показано сварное соединение толщиной 4 мм, имеющего подповерхностные дефекты типов пора размером 5 и 10 % и непровар глубиной 0 - 50 %, полученные с экрана магнитотелевизионного дефектоскопа. [33]
Контроль для выявления прижогов на деталях проводят аналогично контролю по выявлению подповерхностных дефектов. На рис. 8.13 представлены прижоги на кольце подшипника и образце в виде пластины, выявленные способом взвеси. [34]
![]() |
График к пояснению принципа полного подавления чувствительности к расстоянию между катушкой и поверхностью металла при обнаружении трещин с накладной катушкой. [35] |
При помощи описанного метода можно выявлять не только поверхностные, но и подповерхностные дефекты. Исследовалась возможность выявления трещин под слоем металла толщиной 1 35 мм, при наличии трещин глубиной 2 мм; результаты исследований положительные. [36]
Приборы обнаруживают поверхностные дефекты глубиной более 0 22 мм, а также подповерхностные дефекты труб в процессе движения. [37]
![]() |
Гелиевый масс-спектрометрический течей. [38] |
Прибор обнаруживает поверхностные дефекты глубиной более 0 22 мм, а также подповерхностные дефекты труб. [39]
![]() |
Зависимость чувствительности МП. [40] |
Однако род тока намагничивания и метод нанесения порошка сильно сказываются на обнаружении подповерхностных дефектов. В этом случае редко выявляется преимущество постоянного тока над переменным, что объясняется созданием при постоянном токе магнитного поля, глубоко проникающего в металл. Но детали с толщиной стенки 20 мм не следует намагничивать постоянным током, поскольку такие детали невозможно размагнитить после контроля. [41]
Далее покажем, как метод эталона применяют для обнаружения и оценки параметров подповерхностных дефектов. [42]
![]() |
Схема контроля вала с внутренним каналом. [43] |
Поверхностными волнами можно обнаруживать как дефекты, выходящие на поверхность, так и подповерхностные дефекты. [44]
![]() |
График выявляемости дефектов при различной глубине их залегания от поверхности детали в зависимости от напряженности магнитного поля. [45] |