Подповерхностный дефект
Cтраница 2
В и подповерхностных дефектов типа С ( см. рис. 41) зависимости аналогичны зависимостям для кругового цилиндра, Это позволяет использовать диаграммы ( см. рис. 37 - 39) для ориентировоч ных расчетов сигналов ВТП от дефектов в прутках квадратного сечения. [17]
С целью обнаружения подповерхностных дефектов наиболее эффективно использовать РС-ПЭП типа Дуэт для возбуждения головных волн, разработанные в НПО ЦНИИТМАШ. Требования к размерам пьезоэлементов и призмы аналогичны рассмотренным выше, однако для повышения амплитуды полезных сигналов необходимо увеличить размеры пьезоэлементов и, как следствие, размеры призм. [18]
 |
Дистанция обнаружения и распознавания различных объектов ( объектив / 100 мм. [19] |
Для решения задачи выявления скрытых подповерхностных дефектов в строительных конструкциях ( инородные включения, локальные и протяженные пустоты, отверстия, трещины, расслоения и т.п.) с помощью ПТС используется алгоритм поиска, заключающийся в предварительном фиксированном по времени нагреве зоны контроля с последующим наблюдением динамики изменения тепловизионной картины во времени. Нагревание поверхности объекта контроля повышает радиационный контраст и, как следствие, дефектоскопическую чувствительность. Естественно, что нагреватель должен обладать совокупностью характеристик, обеспечивающих с одной стороны достижение требуемой чувствительности контроля, а с другой - отвечать требованиям, предъявляемым к поисковым техническим средствам. [20]
Если деталь имеет поверхностный или подповерхностный дефект, то в той зоне, где он расположен, возникает пара магнитных полюсов, которые действуют подобно маленьким магнитам, удерживающим магнитный порошок на поверхности. В результате образуется видимое изображение дефекта, определяющее его расположение и протяженность. Дефектную зону отмечают в карте контроля. [21]
Головные волны применяют для обнаружения подповерхностных дефектов. Эти волны распространяются прямолинейно, не следуя изгибам поверхности подобно поверхностным. Они быстро затухают с расстоянием из-за того, что в каждой точке поверхности трансформируются в боковые поперечные волны. Контролю головными волнами мешают отражения боковых волн от донной поверхности. [22]
Однако при этом чувствительность к подповерхностным дефектам может значительно уменьшаться. [24]
Однако при этом чувствительность к подповерхностным дефектам может значительно уменьшаться. Амплитудно-фазовый способ выделения информации следует использовать с учетом того, что аргумент векторов сигналов от дефектов может изменяться в широких пределах в зависимости от h и 8, а также от ориентации и формы дефекта. [26]
 |
Зависимость сигналов проходного преобразователя от ширины длинного поверхностного дефекта в цилиндре. [27] |
Однако прп этом чувствительность к подповерхностным дефектам может значительно уменьшаться. Амплитудно-фазовый способ выделения информации следует использовать с учетом того, что аргумент векторов сигналов от дефектов может изменяться в широких пределах в зависимости от / г п б, а также от ориентации и формы дефекта. [28]
 |
Дефекты в прутке квадратного сечения.| Годографы приращений напряжения проходного ВТП в зависимости от глубины дефектов в прутках квадратного сечения.| Дефекты в трубах. [29] |
Для поверхностных дефектов типа В и подповерхностных дефектов типа С ( см. рис. 41) зависимости аналогичны зависимостям для кругового цилиндра. Это позволяет использовать диаграммы ( см. рис. 37 - 39) для ориентировочных расчетов сигналов ВТП от дефектов в прутках квадратного сечения. [30]
Страницы: 1 2 3 4 5