Дефектность - кристаллическая решетка
Cтраница 1
Дефектность кристаллической решетки может быть повышена путем введения небольшого количества добавок, образующих с основным веществом твердые растворы и вызывающих образование вакансий, за счет чего увеличивается коэффициент диффузии. Этот метод ускорения спекания за счет введения в спекающееся тело добавок часто используют в технологии технической, особенно оксидной керамики. Например, добавки к А120з смесей оксидов Мп2 и Ti4, Ti4 и Cu вызывают одновременное образование ка-тионных и анионных вакансий, резко ускоряя спекание. [1]
Дефектность кристаллических решеток оксидных пленок приводит к тому, что при анодной поляризации меняются их структура и состав. Так, на фазовом слое низших оксидов Ag2O, Cu2O формируются высшие оксиды AgO, CuO. При этом изменяются электрофизические свойства оксидной пленки - полупроводник р-типа переходит в полупроводник п-типа. [2]
Тесно связана с дефектностью кристаллической решетки природа самопроизвольной прямоугольное петли гистерезиса ( ППГ) некоторых марганцевых ферритов. Повышению давления кислорода, очевидно, должно соответствовать разупорядочивание по типу (III.5) с появлением катионов Мп3 и катионных вакансий. [3]
 |
Струйный измельчитель серии / ОМ ( Япония для кварцевого. [4] |
Их размеры и степень дефектности кристаллических решеток существенно влияют на скорости отдельных стадий процесса стекловарения. [5]
В пределах области гомогенности бертолидной фазы доминирующий тип дефектности кристаллической решетки остается одним и тем же, и физические свойства фазы в зависимости от состава изменяются плавно. При отклонении состава дальто-нидной фазы от стехиометрии как вследствие избытка, так и недостатка одного из компонентов тип дефектности кристаллической решетки изменяется. На кривых состав - свойство, построенных в концентрационной области существования дальтонидной фазы, имеется особая точка, ордината которой отвечает соединению стехиометрического состава. [6]
 |
Перераспределение углерода между плакирую. [7] |
В последних сжимающие напряжения возникают в силу описанной выше дефектности кристаллической решетки - наличия в ней межузельных и замещенных атомов ( нестехиометрия), которые вызывают упругие искажения решетки в совокупности с реакцией на растягивающие напряжения в подповерхностном разрыхленном вакансиями высокоэнергетическом слое. [8]
Более оправданным, с научной точки зрения, является изучение зависимости дефектности кристаллической решетки и текстуры поликристаллических образцов от наличия малых добавок и затем уже изучение влияния этих изменений на электромагнитные параметры. [9]
Настоящее сообщение посвящено изучению начальных стадий постполимеризации триоксана и выяснению влияния дефектности кристаллической решетки мономера на основные закономерности твердофазной полимеризации триоксана. [10]
В процессе полимеризации в слабополярной среде наряду с образованием а-формы возможно возникновение и р-формы кристаллитов; последние увеличивают дефектность кристаллической решетки. Морфология НМО тонких пленок ПВДФ также зависит от способа синтеза полимера и его молекулярной массы. [11]
Начиная с350 С ( после малых деформаций) непрерывно уменьшается величина ао, что можно объяснить значительным снижением дефектности кристаллической решетки феррита и, возможно, изменением состояния твердого раствора. Величина Kyd-V2, хотя и незначительно, но тоже убывает после отпуска при температуре выше 250 С. Однако, кроме снижения степени блокировки дислокаций, происходят перемены в субзеренной структуре и, вероятно, в размере зерен. Поэтому объяснить поведение Ky - d - lf2B этом интервале температур весьма затруднительно. [12]
 |
II. Расположение катализаторов ароматиза-ции парафинов средней молекулярной массы в пространстве признаков. [13] |
Вычисление второго признака ( Q) основано на усреднении некоторой эмпирической функции, характеризующей энергетику активных центров и степень дефектности кристаллической решетки катализатора. [14]
В процессе полимеризации в слабополярной среде наряду с образованием а-формы воз -, можно возникновение и р-формы кристаллитов; последние увеличивают дефектность кристаллической решетки. Морфология НМО тонких пленок ПВДФ также зависит от способа синтеза полимера и его молекулярной массы. [15]
Страницы: 1 2 3