Импедансный дефектоскоп - Большая Энциклопедия Нефти и Газа, статья, страница 2
Коэффициент интеллектуального развития коллектива равен низшему коэффициенту участника коллектива, поделенному на количество членов коллектива. Законы Мерфи (еще...)

Импедансный дефектоскоп

Cтраница 2


В промышленности распространение находит импедансный дефектоскоп ИАД-2, который работает в комплекте полуавтоматической установки ПИ-1 для механизированного контроля с записью результатов на электротермическую бумагу.  [16]

Для проверки ОК рассматриваемого типа обычно применяют импульсные импедансные дефектоскопы с раздельно-совмещенными преобразователями. Контроль мягких ( например, резиноподобных) покрытий импедансным методом обычно невозможен.  [17]

18 Упрощенная структурная схема импедансного дефектоскопа с совмещенным преобразователем, использующего непрерывное излучение и изгибные колебания. [18]

Для контроля многослойных конструкций летательных аппаратов в условиях их эксплуатации применяют импедансные дефектоскопы с импульсным возбуждением упругих колебаний. В преобразователях этих приборов возбуждают импульсы свободнозатухающих колебаний, несущие частоты которых определяются параметрами преобразователя и общим импедансом Z0 его механической нагрузки. Поэтому при работе совмещенным преобразователем уменьшение ZH в зоне дефекта снижает не только амплитуду, но и несущую частоту выходного сигнала преобразователя. Обработка информации ведется по этим двум параметрам.  [19]

Он наиболее прост, не требует контактных жидкостей и двустороннего доступа, и поэтому особенно удобен для контроля в условиях ремонта и эксплуатации. Используют импедансные дефектоскопы с непрерывным и импульсным излучением, совмещенные и раздельно-совмещенные преобразователи ( см. разд. Последние, применяемые только в импульсных дефектоскопах, выявляют более глубокие дефекты.  [20]

Импедансный метод используют для выявления расслоений в листах из ПКМ при небольших объемах производства. Применяют импульсные импедансные дефектоскопы с раздельно-совмещенными преобразователями.  [21]

И м п е д а н с п ы и метод основан на измерении локального механич. Датчик импедансного дефектоскопа, работающий на частоте 1 0 - 8 0 кГц, будучи прижат к поверхности изделия, реагирует на силу реакции изделия в точке прижима. Метод позволяет определять расслоения площадью от 20 - 30 мма в клееных и паяных конструкциях с металлич.  [22]

23 Структурная схема импедан-сного дефектоскопа с совмещенным преобразователем. [23]

В импедансном дефектоскопе с совмещенным преобразователем ( рис. 97) последний представляет собой стержень 1, на торцах которого размещены излучающий 2 и измерительный 3 пьезоэлементы. Между контролируемым изделием 4 и пьезоэлемен-том 3 находится контактный наконечник 5 со сферической поверхностью. Генератор и усилитель соединены с блоком обработки сигнала 9, имеющим стрелочный индикатор 10 на выходе.  [24]

25 Образец записи дефектов в сотовой панели. [25]

В импедансном дефектоскопе с РС-пресбразователем ( рис. 101) преоСрэзователь 1 содержит идентичные, раздельные, акустически и электрически изолированные друг от друга излучающий И и приемный Я составные пьезовибраторы.  [26]

27 Структурная схема импедансного дефектоскопа. [27]

Структурная схема импедансного дефектоскопа показана на рис. 3.25. Преобразователь представляет собой стержень 5, на торцах которого размещены возбуждающий колебания 2 и измерительный 6 пьезоэле-менты. Между ОК 11 и пьезоэлементом 6 находится контактный наконечник 9 со сферической поверхностью. Генератор и усилитель соединены с блоком 7 обработки сигнала с индикатором 8 на выходе. Блок 7 управляет сигнальной лампочкой / и самописцем ( на рисунке не показан), регистрирующим дефекты при использовании прибора в системах механизированного контроля.  [28]

Возможен также неразрушающий контроль соединения между муфтой и трубой импедансным методом. Для этого используют импульсный импедансный дефектоскоп с раздельно-совмещенным преобразователем. Чувствительность зависит от отношения толщин стенок трубы и муфты. С уменьшением отношения толщины наружного ( по отношению к преобразователю) слоя к внутреннему чувствительность повышается.  [29]

Импедансный метод ( метод реакции) основан на оценке мехапич. При этом методе используются импедансные дефектоскопы.  [30]



Страницы:      1    2    3