Cтраница 1
![]() |
Линейная дислокация.| Винтовая дислокация. [1] |
Исследования структуры кристаллов показали, что встречаются монокристаллы, состоящие из большого количества небольших областей, слегка разориентированных между собой. Такие кристаллы имеют зернистое или блочное строение, обусловленное плоскими дефектами. Относительное ориентирование двух соседних зерен может принимать бесконечное множество значений; соответственно существует бесконечное разнообразие границ между зернами. Поскольку решетка в местах соприкосновения зерен имеет нарушение периодичности, то возникает переходный слой - область повышенного удельного сопротивления и большой концентрации эффективных центров рассеяния носителей заряда. [2]
Исследования структуры кристаллов электролитов показали, что они построены из индивидуальных ионов, расположенных в виде правильной решетки. [3]
Исследованиями структур кристаллов доказано, что указанные выше кристаллические решетки являются идеальными кристаллами. Реальные кристаллы имеют значительные отклонения в строении решетки ( фиг. Причины, вызывающие искажение кристаллической решетки, различны: температурные условия, при которых образуются кристаллы ( нагрев и скорость охлаждения, условия охлаждения), напряжения в металле, вызываемые механическими воздействиями. При этом происходят смещения атомов в кристалле, называемые дислокациями, образуется решетка с узлами, не заполненными атомами ( фиг. [4]
![]() |
Схема регистрации дебаеграммм. [5] |
Для исследования структуры кристаллов применяют также электронографию. Поскольку электроны задерживаются веществом значительно сильнее, чем рентгеновские лучи, при электронографическом изучении твердых тел исследуют прохождение электронов через очень тонкие слои вещества, или изучают дифракцию электронов при отражении их от поверхности. Последний метод ценен тем, что он дает возможность определять структуру тонких поверхностных слоев, например, покрывающих металлы пленок оксидов, нитридов и других соединений. [6]
![]() |
Схема регистрации дебаеграммы. [7] |
Для исследования структуры кристаллов применяют также электронографию. Поскольку электроны задерживаются веществом значительно сильнее, чем рентгеновские лучи, при электронографическом изучении твердых тел исследуют прохождение электронов через очень тонкие слои вещества, или, изучают дифракцию электронов при отражении их от поверхности. Последний метод ценен тем, что он дает возможность определять структуру тонких поверхностных слоев, например, покрывающих металлы пленок оксидов, нитридов я других соединений. [8]
![]() |
Схема снятия дебаеграммы. [9] |
Для исследования структуры кристаллов применяют также электронографию. Поскольку электроны задерживаются веществом значительно сильнее, чем рентгеновские лучи, при электро-нографическом изучении твердых тел используют или очень тонкие слои вещества, или исследуют дифракцию электронов при отражении их от поверхности. Последний метод ценен тем, что он дает возможность изучать структуру тонких поверхностных слоев, например покрывающие металлы пленки оксидов, нитридов и других соединений. [10]
Для исследования структуры кристаллов применяют также электронографию. Поскольку электроны задерживаются веществом значительно сильнее, чем рентгеновские лучи, при электроно-графическом изучении твердых тел исследуют прохождение электронов через очень тонкие слои вещества, или изучают дифракцию электронов при отражении их от поверхности. Последний метод ценен тем, что он дает возможность определять структуру тонких поверхностных слоев, например покрывающих металлы пленок оксидов, нитридов и других соединений. [11]
![]() |
Схема электронографа.| Электроннограммы. а - газов. 6 - кристаллов. [12] |
Для исследования структуры кристаллов и жидкостей применяется также нейтронография. Преимущество нейтронографии по сравнению с другими дифракционными методами исследования заключается в возможности установить пространственное положение атомов водорода, что особенно ценно при изучении биологических объектов и помогает решению фундаментальных проблем молекулярной биологии. [13]
![]() |
Электронограммы фольги меди ( а и. [14] |
Для исследования структуры кристаллов и жидкостей применяется также нейтронография. [15]