Исследование - структура - кристалл - Большая Энциклопедия Нефти и Газа, статья, страница 2
Когда к тебе обращаются с просьбой "Скажи мне, только честно...", с ужасом понимаешь, что сейчас, скорее всего, тебе придется много врать. Законы Мерфи (еще...)

Исследование - структура - кристалл

Cтраница 2


16 Электронограммы газов ( а и кристаллов ( б. [16]

Для исследования структуры кристаллов и жидкостей применяется также нейтронография. Преимущество нейтронографии по сравнению с другими дифракционными методами исследования заключае-ется в возможности установить пространственное положение атомов водорода, что особенно ценно при изучении биологических объектов и помогает решению фундаментальных проблем молекулярной биологии.  [17]

18 Структура некоторых молекул, установленная электронографическим методом.| Электронограммы фольги меди и железа. [18]

Для исследования структуры кристаллов и жидкостей применяется также нейтронография.  [19]

Для исследования структуры кристаллов применяют также электронографию. Поскольку электроны задерживаются веществом значительно сильнее, чем рентгеновские лучи, при электроно-графическом изучении твердых тел исследуют прохождение электронов через очень тонкие слои вещества, или изучают дифракцию электронов при отражении их от поверхности. Последний метод ценен тем, что он дает возможность определять структуру тонких поверхностных слоев, например покрывающих металлы пленок оксидов, нитридов и других соединений.  [20]

Для исследования структуры кристаллов применяют также электронографию. Поскольку электроны задерживаются веществом значительно сильнее, чем рентгеновские лучи, при электронографическом изучении твердых тел используют или очень тонкие слои вещества, или исследуют дифракцию электронов при отражении их от поверхности. Последний метод ценен тем, что он дает возможность изучать структуру тонких поверхностных слоев, например, покрывающие металлы пленки.  [21]

22 Электронограммы газов ( а и кристаллов ( б. [22]

Для исследования структуры кристаллов и жидкостей применяется также нейтронография. Преимущество нейтронографии по сравнению с другими дифракционными методами исследования заключае-ется в возможности установить пространственное положение атомов водорода, что особенно ценно при изучении биологических объектов и помогает решению фундаментальных проблем молекулярной биологии.  [23]

Для исследования структуры кристаллов применяют также метод, основанный на дифракции медленных нейтронов. Рассеяние их потока происходит в результате взаимодействия с ядрами микрочастиц, образующих кристалл.  [24]

Важным для исследования структуры кристаллов с низкой температурой плавления является уменьшение амплитуды тепловых колебаний атомов ( или молекул), так как наличие таких колебаний в кристалле приводит к сильному ослаблению интенсивности интерференции высоких порядков, а следовательно, и к уменьшению наблюдаемых рентгеновских отражений, что в свою очередь снижает точность структурного анализа.  [25]

26 Рентгенограмма кварца, снятая на дифрактометре. [26]

Основным методом исследования структуры хорошо ограниченного кристалла являются методы вращения, колебания и развертки слоевых линий. Полные рентгенограммы вращения позволяют определить для веществ со сравнительно небольшой элементарной ячейкой пространственную группу симметрии.  [27]

28 Рентгенограмма враще ния монокристалла.| Исследование структуры металла методом порошков. [28]

В промышленности для исследования структуры кристаллов широко применяется метод порошков. Большинство технических материалов имеет именно такую поликристаллическую структуру. Поскольку в данном методе используются монохроматические лучи, то для наблюдения их интерференции на неподвижном образце нужно иметь достаточно большое количество кристалликов, ориентированных во всевозможных направлениях, чтобы первичный луч встретил на своем пути достаточное количество отражающих плоскостей. Пример таких следов показан на рис. 2.28. Только в случае очень крупных кристалликов ( размером свыше 0 01 мм) приходится вращать образец; при этом на пленке получаются равномерно зачерненные линии. Расположение дуг или колец на пленке является характерным для каждого кристаллического вещества и служит основой для расчета рентгенограммы.  [29]

Он применяется при исследовании структуры кристаллов, жидкостей и аморфных тел.  [30]



Страницы:      1    2    3    4    5