Муаровая картина

Cтраница 4

Прежде всего, как уже отмечалось выше, для создания муаровой картины необходимы две сетки: сетка модели и эталонная сетка, которые могут быть совершенно одинаковыми либо разными. [46]

Ранее предполагалось, что методом голографической интерферометрии производится сравнение только двух не сильно отличающихся стационарных состояний объекта. Если число последовательных экспозиций увеличить, то при реконструкции объект наблюдается как бы через муаровую картину, образованную в результате наложения отдельных голограмм. Экстраполяция этого подхода на случай непрерывной экспозиции постоянно изменяющейся сцены составляет основу интерферометрии движущихся предметов. [47]

Структурная схема для реализации дифференциального метода. [48]

Далее в компьютере 6 с помощью специальной программы осуществляется поворот мнимого растра 7 относительно точки. Затем в компьютере 6 производится наложение рабочего и повернутого на угол ф мнимого растра 8, получение муаровой картины и вычисление по установленным зависимостям параметров поверхности объекта контроля. [49]

Далее в компьютере 6 с помощью специальной программы осуществляется поворот мнимого растра 7 относительно точки В, лежащей на оси проектора, в плоскости, перпендикулярной этой оси, на угол ср. Затем в компьютере 6 производится наложение рабочего и повернутого на угол р мнимого растра 8, получение муаровой картины и вычисление по установленным зависимостям параметров поверхности объекта контроля. [50]

Схематическое изображение краевой ( а и винтовой ( б дислокации. [51]

Винтовые дислокации с вектором Бюргерса, равным молекулярной складке, возникают при росте кристалла во время кристаллизации и легко могут быть обнаружены на ЭМ снимках реплик с кристаллов. Дислокации в макромолекулярных кристаллах, имеющие вектора Бюргерса, сравнимые с периодом идентичности, можно обнаружить уже только по нарушению периодичности муаровых картин, возникающих при прохождении электронного пучка через пару наложенных друг на друга кристаллических ламелей. [52]

Интересно отметить, что метод муара в принципе может быть применен для определения разрешающей способности микроскопа. Действительно, при условии достаточно высоко развитой техники препарирования ( получение пленок без искажений кристаллической структуры, надежная их взаимная ориентация) можно получить набор муаровых картин с различными и наперед заданными расстояниями между полосами. [53]

Муаровый эффект возникает и может быть легко наблюдаем при геометрической интерференции двух малоотличающихся систем линий, каждая из которых в отдельности при обычных измерениях глазом неразрешима. Геометрическая интерференция системы полос, нанесенной на объект и искаженной при его деформировании, с такой же системой в недеформированном состоянии ( так называемая сетка-свидетель), даст новую систему полос, уже разрешимую глазом, которая и называется муаровой картиной. [54]

Однако при электронно-микроскопических исследованиях муаровых картин кристаллов полимеров вновь возникают трудности, обусловленные влиянием облучения на полимерные образцы. На рис. 164 показано изменение муаровой картины для кристалла полиоксиметилена в зависимости от продолжительности облучения. Полное исчезновение муаровой картины служит доказательством разрушения кристаллической решетки. [55]

Точность метода муара повышается при увеличении числа линий, приходящихся на 1 мм. При очень большом их числе проявляется эффект дифракции света, ограничивающий возможность точных измерений. Наиболее эффективным способом предупреждения искажений муаровых картин является оптическое фильтрование. В простейшем случае муаровую картину наблюдают с помощью двух одинаковых линз, расположенных на расстоянии двух фокусных расстояний. В фокальной плоскости устанавливают диафрагму, пропускающую лучи, прошедшие через дифракционную решетку ( эталонная и рабочие сетки) под строго определенными углами и фокусирующимися в фокальной плоскости. [56]

Надрывы, возникшие. [57]

Такой индикаторный рисунок образуется при контроле лопаток с полиамидно-эпоксидным покрытием. После удаления этого осаждения ветошью или кистью муаровая картина остается, но рисунок изменяется. [58]

Известен подход для изучения муарового эффекта, заключающийся в интерпретации муара как возникновения линий одинакового перемещения. Этот подход не дает возможности глубокого проникновения в сущность муарового эффекта. Его преимущество заключается в том, что он связывает наблюдаемые муаровые картины с основной задачей - изучением деформированного и напряженного состояний. При этом используется сравнительно формальный математический аппарат. [59]

Таким образом, метод муара позволяет разрешить кристаллические решетки с межплоскостными расстояниями в 1 - 2 А и обнаружить в них дефекты структуры. Есть основания полагать, что метод будет эффективен для изучения тонкого механизма пластической деформации кристаллов, осуществляемой в микроскопе, образования сплавов, явлений упорядочивания и разупорядочивания, роста ориентированных слоев, в частности окисных пленок на металлах. Вместе с тем следует подчеркнуть, что интерпретация различных деталей в муаровых картинах - задача очень сложная, которая еще далека от сколько-нибудь полного решения. Здесь необходима осторожность в еще большей степени, чем при непосредственном наблюдении кристаллических решеток. Теоретическое рассмотрение показывает [45-47], что в обоих случаях изображение возникает благодаря интерференции между лучами, дифрагированными в кристаллической решетке. Большинство деталей изображения может быть интерпретировано при помощи кинематической теории, которая дает только геометрическое описание дифракционной Картины. Но для полного понимания проблемы необходимо привлекать динамическую теорию и рассматривать взаимодействие между дифрагированными волнами внутри кристалла, что приводит к изменению распределения электронной интенсивности в плоскости изображения. Кроме того, формирование конечной картины зависит от степени совершенства осветительной системы, аберраций объективной линзы и характера объекта. [60]

Страницы: 1 2 3 4 5