Cтраница 3
В усовршенствованном варианте линии ( правка - резка - контроль качества поверхности - контроль марки стали) описанный механизм разборки и дозировки прутков играет роль промежуточного накопителя, обеспечивающего бесперебойную работу узлов линии. В случае необходимости настройки правильной машины узел дефектоскопии продолжает работать. При возникновении неполадок в дефектоскопе правильная машина также не простаивает. [31]
В последнее время все в большей степени осуществляют автоматизацию контроля качества поверхности прутков. Так, например, на заводе Серп и молот автоматически контролируется химический состав стали прутков ряда размеров, а также контролируется наличие поверхностных дефектов и обезуглероженного слоя. [32]
Схема изготовления насосных штанг SBS. [33] |
Отлитые слитки или заготовки, получаемые непрерывной разливкой, после контроля качества поверхности раскатываются на стержни, имеющие необходимый размер насосных штанг. Для продукции SBS производится оптимизация процесса прокатки в отношении температуры и степени деформации, обеспечивающая особо мелкозернистую структуру. Прокаливаемость ( испытания по Жомини) и структура контролируются у каждой партии прокатанных штанг. [34]
Схема изготовления насосных штанг SBS. [35] |
Отлитые слитки или заготовки, получаемые непрерывной разливкой, после контроля качества поверхности раскатываются на стержни, имеющие необходимый размер насосных штанг. Для продукции SBS производится оптимизация процесса прокатки в отношении температуры и степени деформации, обеспечивающая особо мелкозернистую структуру. Прокаливаемость ( испытания по Жомини) и структура контролируются у каждой партии прокатанных штанг. [36]
Приборы серии ДНМ ( ДНМ-15, ДНМ-500, ДНМ-2000) предназначены для контроля качества поверхности деталей из алюминиевых и жаропрочных сплавов. Преобразователи, применяемые в приборах, - однокатушечные, параметрические и имеют ферритовый концентратор. Приборы созданы по единой структурной схеме ( см. рис. 45, б) и отличаются только частотой генератора и геометрическими размерами преобразователя. При соответствующей настройке фазорегулятора ослабляется влияние небольших изменений зазора. Дефектоскоп настраивают на образце, электромагнитные характеристики которого идентичны характеристикам детали, или на бездефектном участке. [37]
Таким образом, при создании многослойных рентгенооптических элементов чрезвычайно важным является вопрос о контроле качества поверхности подложек. [38]
Для повышения срока службы режущего инструмента при обработке поковок, а также для облегчения контроля качества поверхности поковки очищают от окалины. Применяют три способа очистки поковок: галтовка, дробью и травление. [39]
Контроль абразивной способности инструмента и сред, используемых при изготовлении подложек полупроводников, сводится на практике к контролю качества поверхности обрабатываемых пластин. Его выполняют периодически на выборочных образцах. По степени качества обработки поверхности делают вывод о состоянии износа абразивного инструмента или абразивной среды ( суспензии, пасты) и принимают меры к его исправлению или их замене. [40]
Весы Сальвиони ( по Предводителеву и Витту. [41] |
Ниже будут рассмотрены типы конструкций весов, их рабочие характеристики и будут даны сведения о вакуумной технике, контроле качества поверхности и ее характеристик. Наконец, в разделе II будут рассмотрены некоторые специальные примеры исследования поверхностей при низких температурах с помощью вакуумных микровесов. [42]
Установка новых правильных машин, механизированных зачистных и обдирочных станков, оснащение бес-центрово-шлифовальных станков устройствами для автоматического регулирования размеров шлифованных прутков и контроля качества поверхности. [43]
Схема установки аля опре - а п. [44] |
Простота реализации, отсутствие необходимости покрытия поверхностей и чувствительность метода к высоте шероховатости до единиц ангстрем делают дифференциальный интерференционный контрастный микроскоп очень удобным инструментом для контроля качества сверхгладких поверхностей в процессе их изготовления. В работе [18] этот микроскоп был использован для визуального контроля поверхности специальных лазерных зеркал перед нанесением на них многослойного покрытия. При этом авторы пользовались очень простым критерием: если на поверхности в дифференциальном интерференционном контрастном микроскопе не было видно сколько-нибудь значительной топографической структуры, то эта поверхность считалась пригодной для нанесения покрытия. Такой визуальный критерий, как впоследствии показали измерения по методу TIS, был эквивалентен отбору поверхностей g параметром а 0 5 нм. [45]