Cтраница 4
Для контроля толщины наносимой пленки и соединения тонкой пленки с деталями и элементами конструкции в некоторых случаях на подложках создаются проводящие серебряные контакты. [46]
Для контроля толщины горячих покрытий на проволоке может быть применен описанный выше способ снятия. [47]
Для контроля толщины листового материала применяют циферблатные микрометры с пределом измерений от 0 - 5, 0 - 10 и О-25 мм с неподвижным циферблатом и вращающейся стрелкой. [48]
Для контроля толщины нанесенных лакокрасочных покрытий применяют измерители толщины пленки ВТ-ЗОН и МТ-40НЦ. [49]
Для контроля толщины сравнительно толстых пленок применяют прибор, показанный на рис. 20.14. Коромысло / весов подвешено на нити 3 из фосфористой бронзы. На конце коромысла закреплена слюдяная лопатка 2, на которую напыляется пленка. [50]
При контроле толщины лакокрасочных слоев на поверхности любых материалов применяют устройство с индикатором, измерительный наконечник которого приводят в соприкосновение с поверхностью детали до н после разжижения краски растворителем. Разность отсчетов дает величину контролируемого слоя. Указанный метод измерения является единственно возможным при измерении толщины немагнитных токоне-проводящих покрытий на немагнитной токонепроводящей основе. [51]
При контроле толщины лакокрасочных слоев на поверхности любых материалов применяют устройство с индикатором, измерительный наконечник которого приводят в соприкосновение с поверхностью детали до и после разжижения краски растворителем. Разность отсчетов дает величину контролируемого слоя. Указанный метод измерения является единственно возможным при измерении толщины немагнитных токоне-проводящих покрытий на немагнитной токонепроводящей основе. [52]
При контроле толщины электропроводящих изделий большое влияние на погрешность измерений оказывают изменения удельной электрической проводимости и магнитных свойств, вызванные изменением структуры материала, а также изменение расстояния между ВТП и поверхностью контролируемого объекта. При контроле гальванических покрытий к этим факторам добавляют отклонения толщины, электрической проводимости и магнитной проницаемости самого основания, на которое нанесено покрытие. [53]
![]() |
Структурная схема толщиномера прямого измерения. [54] |
При контроле толщины алюминиевого проката верхнее значение диапазона увеличивается, а при контроле проката меди и сплавов на ее основе - уменьшается. [55]
При контроле толщины электропроводящих изделий большое влияние на погрешность измерений оказывают изменения удельной электрической проводимости и магнитных свойств, вызванные изменением структуры материала, а также изменение расстояния между ВТП и поверхностью контролируемого объекта. При контроле гальванических покрытий к этим факторам добавляют отклонения толщины, электрической проводимости и магнитной проницаемости самого основания, на которое нанесено покрытие. [56]
![]() |
Структурная схема толщиномера прямого измерения. [57] |
При контроле толщины алюминиевого проката верхнее значение диапазона увеличивается, а при контроле проката меди и сплавов на ее основе - уменьшается. [58]
![]() |
К расчету электрического сопротивления участка электропроводящего ОК. [59] |
При контроле толщины медного покрытия стенок отверстия рассматриваемым методом измеряется активное сопротивление образованной покрытием электропроводящей трубки. На рис. 6.2 представлена схема, поясняющая реализацию метода НК печатных плат. [60]