Концентрация - неосновной носитель - заряд - Большая Энциклопедия Нефти и Газа, статья, страница 1
Пока твой друг восторженно держит тебя за обе руки, ты в безопасности, потому что в этот момент тебе видны обе его. Законы Мерфи (еще...)

Концентрация - неосновной носитель - заряд

Cтраница 1


Концентрация неосновных носителей заряда т0 на границе эмиттера одинакова по всей площади перехода, так как она зависит от напряжения на переходе.  [1]

Поскольку концентрация неосновных носителей зарядов в полупроводниках меняется с изменением температуры, то ток / нас зависит от температуры.  [2]

Если концентрация инжектируемых неосновных носителей заряда возрастает и становится сравнима с концентрацией основных носителей ( это происходит при сильной облученности солнечным светом, превышающей стократную, или при высоком прямом напряжении смещения), то ранее полученное уравнение переноса теряет силу.  [3]

Уменьшение концентрации неосновных носителей заряда в области полупроводника, прилегающей к р-п-переходу, при подаче на него внешнего напряжения обратной полярности называется экстракцией.  [4]

5 Транзистор в виде четырехполюсника. [5]

Распределения концентрации неосновных носителей заряда при этом принимают вид, показанный на рис. 11.76. Токи гэ, гк и г в в этом режиме определяются так же, как и в активном режиме. Нетрудно установить, что инверсный режим работы обратен активному - эмиттер и коллектор меняются ролями.  [6]

Так как концентрация неосновных носителей заряда определяется тгпловой генерацией, ток, образованный ими, называют тепловым. Его значение при данной температуре определяется скоростью тепловой генерации носителей заряда. Так как при обратном включении р-п-перехода увеличивается потенциальный барьер, то ширина р-п-перехода / также увеличивается. Это вызывает повышение сопротивления запирающего слоя. Прямое и обратное включение р-и-перехода иногда называют прямым и обратным смещением.  [7]

Следовательно, концентрация неосновных носителей заряда на границе перехода экспоненциально зависит от приложенного к переходу напряжения.  [8]

Снеосн - термодинамическая концентрация неосновных носителей заряда.  [9]

Рассмотрим зависимость концентрации неосновных носителей заряда у границ р - - перехода от внешнего напряжения, приложенного к электронно-дырочному переходу, для частных случаев.  [10]

Рассмотрим зависимость концентрации неосновных носителей заряда у границ р-л-перехода от внешнего напряжения, приложенного к электронно-дырочному переходу, для частных случаев.  [11]

Таким образом, концентрация неосновных носителей заряда в базе около p - n - перехода имеет постоянную и переменную составляющие.  [12]

Таким образом, концентрация неосновных носителей заряда в базе около р-п - переход а имеет постоянную и переменную составляющие.  [13]

14 Конструкция плоскостного триода. 1 - эмиттерная навеска, 2 - кристаллодержатель, a - пластина полупроводника, 4 - коллекторная навеска, 5 - проходной изолятор, 6 - вывод коллектора, 7 - вывод базы, - вывод эмиттера. [14]

Величина этого тока определяется концентрацией неосновных носителей заряда в базе и коллекторе и сильно зависит от температуры.  [15]



Страницы:      1    2    3    4