Концентрация - избыточный носитель - Большая Энциклопедия Нефти и Газа, статья, страница 2
Оригинальность - это искусство скрывать свои источники. Законы Мерфи (еще...)

Концентрация - избыточный носитель

Cтраница 2


16 Зависимость КПД солнечных элементов от размера зерна. Кривые - результат теоретических расчетов, 1 - Hilborn, Lin, 1976. 2 - Lanza, Hovel, 1977. 3 - Soclof, lies, 1975. 4 - Card, Yang, 1977. Символами обозначены экспериментальные результаты.| Результаты расчета распределения концентрации избыточных носителей заряда. [16]

Ланзы и Ховела; б - концентрация избыточных носителей заряда в зависимости от положения в зерне GaAs толщиной 10 мкм, она стремится к нулю на краю обедненной области перехода [ Lama.  [17]

В отличие от диода, для которого концентрация избыточных носителей в толще базы равна нулю, концентрация избыточных носителей в широкой базе тиристора вблизи среднего р-п перехода отлична от нуля.  [18]

Окончание этапа рассасывания характеризуется тем, что концентрация избыточных носителей на коллекторной границе базы падает до нуля, на коллекторном переходе восстанавливается обратное напряжение, а ток коллектора начинает уменьшаться.  [19]

В отличие от диода, для которого концентрация избыточных носителей в толще базы равна нулю, концентрация избыточных носителей в широкой базе тиристора вблизи среднего р-п перехода отлична от нуля.  [20]

21 Инерционность фоторезистора при мгновенном включении и выключении светового потока. [21]

Это объясняется конечным временем нарастания и спада концентрации избыточных носителей, которое определяется временем жизни неосновных носителей в данном полупроводниковом материале. В свою очередь время жизни неосновных носителей связано с наличием большого количества ловушек в поликристаллическом полупроводнике. Ловушки захватывают носители тока при включении света и освобождают их после выключения.  [22]

Это обусловливается тем, что с ростом концентрации избыточных носителей заряда рекомбинационные центры насыщаются, время жизни носителей и, следовательно, коэффициент передачи тока через базу транзистора возрастает.  [23]

24 Неодномерная модель тиристора, используемая для анализа процессов запирания. - - - - - - - - - линии тока управления при t0. - - - - - - - - линии тока управления при. [24]

Кроме того на рис. 2.35 6 показано распределение концентрации избыточных носителей около границ переходов для этих же моментов времени.  [25]

26 Схематическое изображение распределения избыточных носителей заряда в различные моменты времени выключения структуры. - в момент t0. 2 - ti. 3 - ty, 4 - t. 5 - tt, 6 - t1. [26]

Ток управления уменьшает время, необходимое для снижения концентрации избыточных носителей в р-базе у перехода j до нуля, и тем самым сокращает время первого этапа.  [27]

Для того чтобы тиристор перевести в запертое состояние, концентрация избыточных носителей зарядов в базовых областях должна быть уменьшена до весьма малой величины за счет действия электрического поля и процесса рекомбинации. Это может быть достигнуто, если на определенное время уменьшить ток в тиристоре до значений, меньших удерживающего тока / уд, или изменить на обратную полярность напряжения, действующего на тиристоре.  [28]

29 Возбуждение фотоносителей из валентной зоны и примесных уровней ( а. спектральное распределение фотопроводимости ( б. [29]

Вследствие же рекомбинации, скорость которой растет с ростом концентрации избыточных носителей, в полупроводнике устанавливается стационарное состояние, при котором скорости генерации и рекомбинации уравновешивают друг друга.  [30]



Страницы:      1    2    3    4