Концентрация - дефект - Большая Энциклопедия Нефти и Газа, статья, страница 4
Ничто не хорошо настолько, чтобы где-то не нашелся кто-то, кто это ненавидит. Законы Мерфи (еще...)

Концентрация - дефект

Cтраница 4


46 Зависимость привеса от времени Диффузия ИОНОВ титана, при окислении железа на воздухе при 950 С ( а и титана ВТ1 - 1 при 880 С. [46]

Представителем окислов с малой концентрацией дефектов является А12О3, который не растворяет кислород и незначительно растворяет алюминий. Поэтому алюминий слабо окисляется на воздухе вплоть до плавления. Прочность сцепления А12О3 с металлом велика, а проницаемость для окислительных газов ничтожно мала.  [47]

48 Зависимость электропроводности полупроводников от давления кислорода. Линейная зависимость N характерна для полупроводников я-типа, зависимость Р - для полупроводников р-типа. [48]

Следует подчеркнуть, что концентрация дефектов в полупроводнике зависитрг газовой среды, в которой он находится. Поскольку диффузия дефектов с поверхности в объем есть активационный процесс, глубина слоя, на котором сказывается влияние газовой атмосферы, зависит от температуры. Таким образом, концентрация дефектов на поверхности зависит от газовой атмосферы и может превосходить концентрацию, дефектов в объеме.  [49]

Толщина слоя зависит от концентрации дефектов в нем.  [50]

51 Возможные комбинации парных дефектов в ферритах MeFe2O4 ( стехиометрического состава. [51]

В случае замещенных ферритов концентрация дефектов заметно возрастает, вследствие чего взаимодействие между дефектами становится существенным и им пренебрегать нельзя. Это взаимодействие может приводить к образованию различных комплексов - ассоциатов или кластеров, которые следует рассматривать как новую разновидность дефектов. Такие комплексы могут находиться в ионизированном или нейтральном состоянии. Упорядочение комплексов в ряде случаев приводит к образованию новых фаз.  [52]

Поскольку влияние кадмия на концентрации дефектов заметно только при низких температурах, то при определенной температуре становится возможным изменение заряда на дислокации [32], что и наблюдалось в действительности. Заряженный линейный дефект ( дислокация) с цилиндрическим пространственным зарядом по своей природе аналогичен как поверхностному заряду на границе раздела с примыкающим к ней приповерхностным зарядом, так и заряженному точечному дефекту с его сферической ионной атмосферой Дебая - Хюккеля.  [53]

До тех пор пока концентрация дефектов не становится достаточной для образования значительного количества пар, хемосорбция типа ( XXVI) и ( XXVII) является медленным процессом. Однако благодаря взаимному отталкиванию пар лишь при очень большом их числе, когда ZnO превращается уже в вырожденный полупроводник, оказывается возможным увеличение скорости хемосорбции. Действительно, можно сказать, что активная окись цинка является квазиметаллической.  [54]

Пусть в стекле имеется концентрация дефектов N и локализация на них электронов или дырок вызывает поглощение в определенной части спектра. Одновре менно осуществляется радиационный и термический отжиг.  [55]

Далее, так как концентрация простых дефектов определяется величиной Я, то наклон логарифмической прямой, соответствующей ( Veil, приближается к постоянному значению независимо от размера кластера, преобладающего в балансе натрия.  [56]



Страницы:      1    2    3    4