Линия - фон
Cтраница 1
Линия фона, обусловленного натрием, меняется, но интенсивность полосы окиси кальция около 5540 А с увеличением содержания натрия не претерпевает изменения. [1]
Линия фона между краями максимума делится пополам, и из ее середины проводится до пересечения с кривой вертикальная линия, которая и представляет собой высоту максимума. Там же показано, как производится разложение сложных максимумов. [2]
Линию фона или / 0 можно установить, применяя уже обсуждавшийся метод базовой линии, наполняя кювету образца чистым растворителем ( либо используя аналогичную кювету сравнения с растворителем) или, если возможно, выбирая участок спектра, где нет поглощения. [3]
 |
Символы, использованные в алгоритмах программ ЭВМ. [4] |
Поправка на линию фона для этой волны сделана путем экстраполяции методом наименьших квадратов линии, проходящей через 20 точек в области потенциалов волны и 40 точек до полярографической волны. Точность указанного постояннотоко-вого полярографа, использующего метод сравнения токов, была по диффузионному току 2 %, 2 мВ для Ел / 2 и 2 мВ для - наклона полулогарифмического графика, причем все данные лучше, чем у обычного аналогового прибора. [5]
На спектрограммах проводят линии фона и измеряют высоту аналитических пиков. [6]
Примечание: Фотометрирование линий фона для цинка, висмута, никеля, марганца, олова, свинца, железа, кремния, сурьмы и мышьяка ведется по второй ступени, для серебра и магния - по первой ступени спектрограммы. В случае, когда определение серебра и магния не требуется, спектрограммы можно фотографировать без ступенчатого ослабителя. [7]
Для этого проводят на бланке линии фона путем соединения прямыми линиями пологих участков спектральной кривой слева и справа от основания пиков и измеряют высоту вертикальных отрезков между этими линиями и максимумами пиков. [8]
Последовательное уточнение параметров позволяет исправлять линию фона. Процедура исправления линии фона может быть автоматизирована. [9]
 |
Зависимость между пробегом и энергией р-частиц. [10] |
Место, где кривая поглощения сливается с линией фона, соответствует максимальному пробегу. Имеется целый ряд эмпирических соотношений между пробегом и энергией р-излучения [210, 286], которые применимы только для определенных значений максимальной энергии Р - частиц. [11]
Однако все известные варианты графического и аналитического определения линии фона в какой-то мере произвольны, и функция sM3KCn ( s), выделенная таким путем, на некоторых отрезках может перекрываться случайной функцией s & M ( s), обусловленной прежде всего отклонением экспериментальной линии фона от истинной. Функция sAAi ( s) может исказить информацию о структурных параметрах, содержащуюся в кривой sM3Kcn ( s), и привести к ошибкам структурного определения, поэтому ее необходимо исключить из этой кривой. Многие из известных методов исключения волны ошибок из функции sM3Kcn ( s) основаны на использовании общих свойств функции sM ( s), G ( s), s M ( s) и интегральных преобразований Фурье. Рассмотрим одни из таких методов. [12]
 |
Экспериментальная кривая sM ( s молекулы WOBr4, уточненная методом наименьших квадратов ( а и сопоставленные sMTeaf ( s с sM3fcn ( s [ ( кривая As. M ( s ] молекулы WOBr4 ( б. [13] |
ЭВМ, и производят затем по уточненным данным некоторую коррекцию линии фона при условии сохранения ее гладкости ( см. разд. В процессе анализа на ЭВМ решают задачу рассеяния на приближенной модели молекулы, вычисляют sMTe0p ( s) и сравнивают с sAf3Kcn ( s) - При этом путем варьирования параметров f и / добиваются минимального рассогласования этих кривых. [14]
За меру кристалличности принята высота определенного пика на рентгенограмме, которая измеряется от линии фона до вершины максимума. [15]
Страницы: 1 2 3 4